[实用新型]一种测试稳定有效的半导体器件用测试组件

权利要求书

1.一种测试稳定有效的半导体器件用测试组件，其特征在于：包括陶瓷固定座、PCB基板和测试片组件；所述陶瓷固定座的顶部穿过PCB基板；待测芯片设置在陶瓷固定座上；所述测试片组件的一端引脚与陶瓷固定座上的待测芯片电连接，另一端引脚与PCB基板电连接；所述测试片组件包括对称设置的两个测试片机构；所述测试片机构包括固定板和测试片组；所述固定板用于固定测试片组；所述测试片机构为一体式结构。

2.根据权利要求1所述的测试稳定有效的半导体器件用测试组件，其特征在于：所述测试片组为4组测试片组；所述每组测试片组为2片，第一测试片和第二测试片，形成一路前后开尔文；所述固定板设有3块，第一固定板、第二固定板和第三固定板；所述第一测试片设置在第一固定板和第二固定板之间；所述第二测试片设置在第二固定板和第三固定板之间。

3.根据权利要求2所述的测试稳定有效的半导体器件用测试组件，其特征在于：所述陶瓷固定座包括固定块、活动块、定位陶瓷块和缓冲机构；所述固定块上部内开有凹槽；所述定位陶瓷块通过活动块设置在凹槽内；所述定位陶瓷块的顶部设有定位待测芯片的定位槽；所述缓冲机构与固定块下部连接。

4.根据权利要求3所述的测试稳定有效的半导体器件用测试组件，其特征在于：所述缓冲机构包括一组左右对称设置的导向机构和下压缓冲机构；所述导向机构包括导向柱和导向轴承；所述导向柱与固定块下部相连；所述导向轴承设置在导向柱外；所述下压缓冲机构包括下压高度限位轴和悬浮压缩缓冲弹簧；所述下压高度限位轴与活动块相连；所述悬浮压缩缓冲弹簧设置在下压高度限位轴外，与固定块下部相连。

5.根据权利要求2～4之一所述的测试稳定有效的半导体器件用测试组件，其特征在于：所述测试片针尖全部采用钨钢焊。