[实用新型]一种碳化硅晶圆测试载台有效

专利信息
申请号: 202023322986.4 申请日: 2020-12-31
公开(公告)号: CN214974161U 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: 魏剑宏 申请(专利权)人: 苏州安萨斯半导体有限公司
主分类号: B01L9/02 分类号: B01L9/02
代理公司: 苏州卓博知识产权代理事务所(普通合伙) 32491 代理人: 马丽丽
地址: 215131 江苏省苏州市相城经济技术开发区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 碳化硅 测试
【权利要求书】:

1.一种碳化硅晶圆测试载台,包括晶圆测试台台体(1),其特征在于:所述晶圆测试台台体(1)的上端固定连接控制座(2)、一号支撑柱(4)、二号支撑柱(5)、配电箱(7)、固定旋转底座(21),所述晶圆测试台台体(1)的上端开设有活动槽(10),所述控制座(2)的上端设置有控制面板(3),所述一号支撑柱(4)与二号支撑柱(5)的上端固定有操作平台(8),所述操作平台(8)的一端开设有一号螺母孔(6),所述活动槽(10)的上端活动连接有滑动块(11),所述滑动块(11)的上端活动连接有转动连接盘(13),所述转动连接盘(13)的上端开设有二号螺母孔(14),所述晶圆测试台台体(1)的下端固定连接有连接板(15),所述转动连接盘(13)的外侧固定连接有放置旋转操作盘(29),所述连接板(15)的表面开设有三号螺母孔(16),所述连接板(15)的下端固定连接有底部伸缩支撑柱(12),所述底部伸缩支撑柱(12)的下端活动连接有伸缩柱底座(17),所述伸缩柱底座(17)的下端固定连接有三角固定块(18),所述伸缩柱底座(17)的下端底面固定连接有底座脚板(19),所述底座脚板(19)的表面开设有定位孔(20),所述固定旋转底座(21)的表面开设有四号螺母孔(22),所述固定旋转底座(21)的上端活动连接有活动旋杆(9),所述活动旋杆(9)的上端固定连接有一号旋转臂(24),所述一号旋转臂(24)的一端固定连接有一号固定螺丝(23),所述一号旋转臂(24)的一侧活动连接有二号旋转臂(26),所述二号旋转臂(26)的一端活动连接有活动转轴(25),所述二号旋转臂(26)的一侧固定连接有操作头放置槽(27)、二号固定螺丝(28)。

2.根据权利要求1所述的一种碳化硅晶圆测试载台,其特征在于:所述滑动块(11)与转动连接盘(13)的之间设置有转轴,所述滑动块(11)的上端表面通过转轴与转动连接盘(13)的下端底面固定连接,所述转动连接盘(13)的下端表面通过二号螺母孔(14)与转轴的上端固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种碳化硅晶圆测试载台,其特征在于:所述连接板(15)与底部伸缩支撑柱(12)的之间设置有焊接块,所述连接板(15)的下端表面通过焊接块与底部伸缩支撑柱(12)的上端表面固定连接,所述底部伸缩支撑柱(12)与伸缩柱底座(17)的之间设置有活动轴,所述底部伸缩支撑柱(12)的下端通过活动轴与伸缩柱底座(17)的内部活动连接。

4.根据权利要求1所述的一种碳化硅晶圆测试载台,其特征在于:所述滑动块(11)的下端通过活动槽(10)与晶圆测试台台体(1)的上端表面固定连接,所述底座脚板(19)的下端通过定位孔(20)与晶圆测试台台体(1)的上端表面固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种碳化硅晶圆测试载台,其特征在于:所述操作平台(8)的一端通过一号螺母孔(6)与一号支撑柱(4)、二号支撑柱(5)的上端表面固定,所述一号支撑柱(4)、二号支撑柱(5)与晶圆测试台台体(1)的下端设置有焊条,所述一号支撑柱(4)、二号支撑柱(5)的下端表面通过焊条与晶圆测试台台体(1)的上端表面固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种碳化硅晶圆测试载台,其特征在于:所述固定旋转底座(21)的下端通过四号螺母孔(22)与晶圆测试台台体(1)的上端表面固定连接,所述一号旋转臂(24)的一端通过活动转轴(25)与二号旋转臂(26)的一端活动连接。

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