[实用新型]一种碳化硅晶圆测试载台有效
申请号: | 202023322986.4 | 申请日: | 2020-12-31 |
公开(公告)号: | CN214974161U | 公开(公告)日: | 2021-12-03 |
发明(设计)人: | 魏剑宏 | 申请(专利权)人: | 苏州安萨斯半导体有限公司 |
主分类号: | B01L9/02 | 分类号: | B01L9/02 |
代理公司: | 苏州卓博知识产权代理事务所(普通合伙) 32491 | 代理人: | 马丽丽 |
地址: | 215131 江苏省苏州市相城经济技术开发区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 碳化硅 测试 | ||
1.一种碳化硅晶圆测试载台,包括晶圆测试台台体(1),其特征在于:所述晶圆测试台台体(1)的上端固定连接控制座(2)、一号支撑柱(4)、二号支撑柱(5)、配电箱(7)、固定旋转底座(21),所述晶圆测试台台体(1)的上端开设有活动槽(10),所述控制座(2)的上端设置有控制面板(3),所述一号支撑柱(4)与二号支撑柱(5)的上端固定有操作平台(8),所述操作平台(8)的一端开设有一号螺母孔(6),所述活动槽(10)的上端活动连接有滑动块(11),所述滑动块(11)的上端活动连接有转动连接盘(13),所述转动连接盘(13)的上端开设有二号螺母孔(14),所述晶圆测试台台体(1)的下端固定连接有连接板(15),所述转动连接盘(13)的外侧固定连接有放置旋转操作盘(29),所述连接板(15)的表面开设有三号螺母孔(16),所述连接板(15)的下端固定连接有底部伸缩支撑柱(12),所述底部伸缩支撑柱(12)的下端活动连接有伸缩柱底座(17),所述伸缩柱底座(17)的下端固定连接有三角固定块(18),所述伸缩柱底座(17)的下端底面固定连接有底座脚板(19),所述底座脚板(19)的表面开设有定位孔(20),所述固定旋转底座(21)的表面开设有四号螺母孔(22),所述固定旋转底座(21)的上端活动连接有活动旋杆(9),所述活动旋杆(9)的上端固定连接有一号旋转臂(24),所述一号旋转臂(24)的一端固定连接有一号固定螺丝(23),所述一号旋转臂(24)的一侧活动连接有二号旋转臂(26),所述二号旋转臂(26)的一端活动连接有活动转轴(25),所述二号旋转臂(26)的一侧固定连接有操作头放置槽(27)、二号固定螺丝(28)。
2.根据权利要求1所述的一种碳化硅晶圆测试载台,其特征在于:所述滑动块(11)与转动连接盘(13)的之间设置有转轴,所述滑动块(11)的上端表面通过转轴与转动连接盘(13)的下端底面固定连接,所述转动连接盘(13)的下端表面通过二号螺母孔(14)与转轴的上端固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种碳化硅晶圆测试载台,其特征在于:所述连接板(15)与底部伸缩支撑柱(12)的之间设置有焊接块,所述连接板(15)的下端表面通过焊接块与底部伸缩支撑柱(12)的上端表面固定连接,所述底部伸缩支撑柱(12)与伸缩柱底座(17)的之间设置有活动轴,所述底部伸缩支撑柱(12)的下端通过活动轴与伸缩柱底座(17)的内部活动连接。
4.根据权利要求1所述的一种碳化硅晶圆测试载台,其特征在于:所述滑动块(11)的下端通过活动槽(10)与晶圆测试台台体(1)的上端表面固定连接,所述底座脚板(19)的下端通过定位孔(20)与晶圆测试台台体(1)的上端表面固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种碳化硅晶圆测试载台,其特征在于:所述操作平台(8)的一端通过一号螺母孔(6)与一号支撑柱(4)、二号支撑柱(5)的上端表面固定,所述一号支撑柱(4)、二号支撑柱(5)与晶圆测试台台体(1)的下端设置有焊条,所述一号支撑柱(4)、二号支撑柱(5)的下端表面通过焊条与晶圆测试台台体(1)的上端表面固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种碳化硅晶圆测试载台,其特征在于:所述固定旋转底座(21)的下端通过四号螺母孔(22)与晶圆测试台台体(1)的上端表面固定连接,所述一号旋转臂(24)的一端通过活动转轴(25)与二号旋转臂(26)的一端活动连接。
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