[实用新型]一种集成电路

权利要求书

1.一种集成电路，其特征在于，所述集成电路包括：

检测子电路，包括晶体管，用于通过光电效应检测光故障注入攻击，在自身受到光故障注入攻击时所述检测子电路能够输出第一信号；

辅助子电路，用于在自身受到光故障注入攻击时能够向所述检测子电路发送感应信号，所述感应信号能够使所述检测子电路输出第一信号。

2.根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述检测子电路的面积大于所述辅助子电路的面积。

3.根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述辅助子电路包括多个并列设置的二极管，每个所述二极管与所述检测子电路连接，当其中任一个二极管自身受到光故障注入攻击时能够使所述检测子电路输出第一信号。

4.根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于，

所述检测子电路还用于，在自身没有受到光故障注入攻击时所述检测子电路能够输出与所述第一信号不同的第二信号；

所述辅助子电路还用于，在自身没有受到光故障注入攻击时不影响所述检测子电路。

5.根据权利要求4所述的集成电路，其特征在于，所述检测子电路包括：

锁存子电路，用于在接收到复位信号后能够输出第二信号并在所述复位信号断开后锁存所述第二信号，在受到光故障注入攻击时能够输出第一信号；

复位子电路，用于向所述锁存子电路输出复位信号。

6.根据权利要求5所述的集成电路，其特征在于，所述锁存子电路包括：两个P型晶体管和两个N型晶体管，所述两个P型晶体管和所述两个N型晶体管形成锁存结构。

7.根据权利要求6所述的集成电路，其特征在于，所述锁存子电路包括：第一P型晶体管、第二P型晶体管、第一N型晶体管以及第二N型晶体管；

所述第一P型晶体管的漏极分别与所述第二P型晶体管的栅极、所述第一N型晶体管的漏极、所述第二N型晶体管的栅极连接，

所述第一P型晶体管的栅极分别与所述第二P型晶体管的漏极、所述第一N型晶体管的栅极、所述第二N型晶体管的漏极连接，

所述第一N型晶体管的源极和所述第二N型晶体管的源极均接地，所述第一P型晶体管的源极和所述第二P型晶体管的源极均接外部电压。

8.根据权利要求7所述的集成电路，其特征在于，所述复位子电路包括：

第三P型晶体管，所述第三P型晶体管的漏极分别与所述第一P型晶体管的漏极、所述第二P型晶体管的栅极、所述第一N型晶体管的漏极以及第二N型晶体管的栅极连接，所述第三P型晶体管的栅极能够接收低电平复位信号，所述第三P型晶体管的源极连接外部电压；

第三N型晶体管，所述第三N型晶体管的漏极分别与所述第一P型晶体管的栅极、所述第二P型晶体管的漏极、所述第一N型晶体管的栅极以及第二N型晶体管的漏极连接，所述第三N型晶体管的栅极能够接收高电平复位信号，所述第三N型晶体管的源极接地。

9.根据权利要求7所述的集成电路，其特征在于，所述辅助子电路包括：

第一辅助子电路，包括多个并列设置的第一二极管，每个所述第一二极管的负极均与所述第一P型晶体管的漏极、所述第一N型晶体管的漏极连接，每个所述第一二极管的正极均接地，且所述第一二极管的面积大于或等于所述第一N型晶体管的漏有源区的面积；

第二辅助子电路，包括多个并列设置的第二二极管，每个所述第二二极管的正极均与所述第二P型晶体管的漏极、所述第二N型晶体管的漏极连接，每个所述第二二极管的负极均接外部电压，且所述第二二极管的面积大于或等于所述第二P型晶体管的漏有源区的面积。