[实用新型]一种集成电路

说明书

本申请公开了一种集成电路，所述集成电路包括：检测子电路，包括晶体管，用于通过光电效应检测光故障注入攻击，在自身受到光故障注入攻击时所述检测子电路能够输出第一信号；辅助子电路，用于在自身受到光故障注入攻击时能够向所述检测子电路发送感应信号，所述感应信号能够使所述检测子电路输出第一信号。通过这种方式，能够辅助扩大激光检测电路的保护能力，为减小芯片面积、降低芯片成本提供技术支持。

技术领域

本申请涉及电子技术领域，特别是涉及一种集成电路。

背景技术

安全芯片的一个重要要求是其工作环境安全可靠。目前有很多攻击手段会威胁到芯片的安全工作环境，其中激光注入攻击便是常用的攻击手段之一。该技术使用激光对半导体芯片的存储单元或逻辑单元进行激光照射，利用半导体器件中寄生二极管的感光特性，使得逻辑电路中的锁存单元发生逻辑变化，从而改写逻辑状态。因此，很多安全芯片都会使用激光检测电路，对激光注入攻击进行检测。

目前常用检测技术中，单个检测电路需要多个晶体管，若大量布局这样的检测电路，会造成芯片成本提升。随着激光攻击技术的提升，照射光斑逐渐减小，松散的布局又会导致保护能力不足。

实用新型内容

基于此，本申请提供一种集成电路，能够辅助扩大激光检测电路的保护能力，为减小芯片面积、降低芯片成本提供技术支持。

第一方面，本申请提供一种集成电路，所述集成电路包括：

检测子电路，包括晶体管，用于通过光电效应检测光故障注入攻击，在自身受到光故障注入攻击时所述检测子电路能够输出第一信号；

辅助子电路，用于在自身受到光故障注入攻击时能够向所述检测子电路发送感应信号，所述感应信号能够使所述检测子电路输出第一信号。

本申请实施例提供了一种集成电路，所述集成电路包括：检测子电路，用于通过光电效应检测光故障注入攻击，在自身受到光故障注入攻击时所述检测子电路能够输出第一信号；辅助子电路，用于在自身受到光故障注入攻击时能够使所述检测子电路输出第一信号。由于在检测子电路通过光电效应检测光故障注入攻击的基础上，辅助子电路在自身受到光故障注入攻击时能够使所述检测子电路输出第一信号，即辅助子电路能够对光故障注入攻击进行感应，并能够将感应到的光故障注入攻击信息传递到检测子电路，使所述检测子电路输出第一信号，第一信号能够表示当前集成电路受到光故障注入攻击，因此不需要布置多个检测子电路，仅仅加上辅助子电路就可以扩大检测子电路的保护能力。后续可以采用面积比检测子电路小的辅助子电路、成本比检测子电路小的辅助子电路，即可以减小芯片面积、降低芯片成本；因此本申请实施例的集成电路还能够为减小芯片面积、降低芯片成本提供技术支持。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

附图说明

图1是本申请集成电路一实施例的结构示意图；

图2是本申请集成电路另一实施例的结构示意图；

图3是本申请集成电路又一实施例的结构示意图；

图4是本申请集成电路又一实施例的结构示意图；

图5是本申请集成电路又一实施例的结构示意图；

图6是本申请集成电路又一实施例的结构示意图；

图7是本申请集成电路又一实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。