[发明专利]X射线平板探测器及其图像校正方法有效

专利信息
申请号: 202080000416.7 申请日: 2020-03-27
公开(公告)号: CN113766878B 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 赵斌;徐帅;庞净 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方传感技术有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;H04N25/00;H01L27/146;G01N23/04
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 张佳
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 射线 平板 探测器 及其 图像 校正 方法
【权利要求书】:

1.一种X射线平板探测器,包括显示区域和边框区域,所述显示区域包括:交叉设置的多条信号读取线、多条扫描线和呈矩阵排列的多个像素;其中,所述显示区域内至少有一个所述像素为伪像素,所述伪像素在所述平板探测器采集图像时为暗态;

所有所述伪像素的位置坐标满足如下条件:

在同一坐标系中,所有所述伪像素的坐标位置与所述显示区域经过水平翻转后所有所述伪像素的坐标位置不相同;

且在同一坐标系中,所有所述伪像素的坐标位置与所述显示区域经过垂直翻转后所有所述伪像素的坐标位置不相同;

且在同一坐标系中,所述显示区域经过水平翻转后所有所述伪像素的坐标位置与所述显示区域经过垂直翻转后所有所述伪像素的坐标位置不相同。

2.如权利要求1所述的X射线平板探测器,其中,所述伪像素的数量大于1个小于或等于5个。

3.如权利要求2所述的X射线平板探测器,其中,所有所述伪像素均沿行方向和/或列方向相邻设置。

4.如权利要求2所述的X射线平板探测器,其中,所有所述伪像素中部分伪像素相邻设置。

5.如权利要求2所述的X射线平板探测器,其中,所有所述伪像素各自均互不相邻。

6.如权利要求1所述的X射线平板探测器,其中,所述伪像素的坐标位置均设置在所述显示区域靠近所述边框区域的位置。

7.如权利要求1-6任一项所述的X射线平板探测器,其中,所述像素包括:光电转换单元和薄膜晶体管;其中,所述光电转换单元用于将X射线光转换为电信号并进行存储;所述薄膜晶体管的第一级与所述光电转换单元的输出端连接,所述薄膜晶体管的第二极与信号读取线连接,所述薄膜晶体管的栅极与扫描线连接;所述薄膜晶体管用于在所述扫描线的控制下将所述光电转换单元输出的信号提供至所述信号读取线。

8.如权利要求7所述的X射线平板探测器,其中,所述伪像素中,所述薄膜晶体管的第一极和第二极直接电连接。

9.如权利要求7所述的X射线平板探测器,其中,所述伪像素中,所述薄膜晶体管的栅极与所述扫描线断路。

10.如权利要求7所述的X射线平板探测器,其中,所述伪像素中,所述薄膜晶体管的第二极与所述信号读取线断路。

11.如权利要求7所述的X射线平板探测器,其中,所述伪像素中,所述薄膜晶体管的第一极与所述光电转换单元断路。

12.一种如权利要求1-11任一项所述的X射线平板探测器的图像校正方法,其中,包括:

获取所述平板探测器采集的初始图像;

根据所述初始图像中暗点的位置坐标定位所述初始图像的方向;

对所述初始图像中的伪像素进行修复,其中所述伪像素的亮度根据所述伪像素周边像素的亮度确定。

13.如权利要求12所述的图像校正方法,其中,所述伪像素的亮度根据所述伪像素周边像素的亮度确定,具体为:

所述伪像素的亮度等于与相邻的所有像素的亮度平均值。

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