[发明专利]X射线平板探测器及其图像校正方法

说明书

本公开公开了一种X射线平板探测器及其图像校正方法，显示区域中将部分像素设置伪像素，所有伪像素的位置坐标满足如下3个条件：(1)在同一坐标系中，所有伪像素的坐标位置与显示区域经过水平翻转后所有伪像素的坐标位置不相同；(2)且在同一坐标系中，所有伪像素的坐标位置与显示区域经过垂直翻转后所有伪像素的坐标位置不相同；(3)且在同一坐标系中，显示区域经过水平翻转后所有伪像素的坐标位置与显示区域经过垂直翻转后所有伪像素的坐标位置不相同。

技术领域

本公开涉及X射线摄像技术领域，尤指一种X射线平板探测器及其图像校正方法。

背景技术

近年来，X射线检测广泛应用于医疗、安全、无损检测以及科研等各个领域。目前，比较常见的X射线检测技术是2 0世纪9 0年代末出现的X射线数字照相(DigitalRadiography，DR)检测技术。X射线数字照相检测技术中使用了平板探测器(Flat PanelDetector，FPD)，其像素尺寸可小于0.1mm，因而其成像质量及分辨率几乎可与胶片照相系统媲美，同时还克服了胶片照相系统中的缺点，也为图像的计算机处理提供了方便。

现有的平板探测器，对产品进行不良分析时，首先需要进行图像采集，然后结合图像对不良位置在平板上进行定位，由于不同客户使用的电路板及采图时序存在差异，图像生成规则也各不相同，需要针对具体电路板及采图规则进行单独区分。常规方法为表面放上遮挡物并进行曝光，然后以图像中的遮挡物为参考进行定位。但是，上述方法容易使平板表面由于触碰遮挡物导致划伤或其他静电类mura不良，且采图过程也较为复杂。

发明内容

本公开实施例提供一种X射线平板探测器及其图像校正方法，具体方案如下：

一方面，本公开实施例提的一种X射线平板探测器，包括显示区域和边框区域，所述显示区域包括：交叉设置的多条信号读取线、多条扫描线和呈矩阵排列的多个像素；其中，所述显示区域内至少有一个所述像素为伪像素，所述伪像素在所述平板探测器采集图像时为暗态；

所有所述伪像素的位置坐标满足如下条件：

在同一坐标系中，所有所述伪像素的坐标位置与所述显示区域经过水平翻转后所有所述伪像素的坐标位置不相同；

且在同一坐标系中，所有所述伪像素的坐标位置与所述显示区域经过垂直翻转后所有所述伪像素的坐标位置不相同；

且在同一坐标系中，所述显示区域经过水平翻转后所有所述伪像素的坐标位置与所述显示区域经过垂直翻转后所有所述伪像素的坐标位置不相同。

可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，其中，所述伪像素的数量大于1个小于或等于5个。

可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，所有所述伪像素均沿行方向和/或列方向相邻设置。

可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，所有所述伪像素中部分伪像素相邻设置。

可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，所有所述伪像素各自均互不相邻。

可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，其中，所述伪像素的坐标位置均设置在所述显示区域靠近所述边框区域的位置。

可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，其中，所述像素包括：光电转换单元和薄膜晶体管；其中，所述光电转换单元用于将X射线光转换为电信号并进行存储；所述薄膜晶体管的第一级与所述光电转换单元的输出端连接，所述薄膜晶体管的第二极与信号读取线连接，所述薄膜晶体管的栅极与扫描线连接；所述薄膜晶体管用于在所述扫描线的控制下将所述光电转换单元输出的信号提供至所述信号读取线。

可选地，在本公开实施例提供的X射线平板探测器中，其中，所述伪像素中，所述薄膜晶体管的第一极和第二极直接电连接。