[发明专利]晶体校准的方法、芯片和蓝牙耳机

权利要求书

1.一种晶体校准的方法，其特征在于，适用于具有晶体的芯片，所述方法包括：

获取至少一个脉冲信号的计数差值，所述至少一个脉冲信号包括所述晶体基于多个参数中的至少一个参数生成的脉冲信号，所述至少一个脉冲信号中每一个脉冲信号的计数差值为利用由参考脉冲信号触发的两次外部中断获取的基于相应脉冲信号的系统滴答计数值之间的差值；

基于所述至少一个脉冲信号的计数差值确定目标参数；

将基于所述目标参数生成的脉冲信号确定为晶体校准后的脉冲信号。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取至少一个脉冲信号的计数差值，包括：

利用二分法获取所述至少一个脉冲信号的计数差值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述利用二分法获取所述至少一个脉冲信号的计数差值，包括：

确定多个参数中的最小参数和最大参数；

基于最小参数和最大参数分别生成第一脉冲信号和第二脉冲信号；

分别获取所述第一脉冲信号的第一计数差值和第二脉冲信号的第二计数差值；

其中，基于所述至少一个脉冲信号的计数差值确定目标参数，包括：

基于所述第一计数差值和所述第二计数差值确定所述目标参数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一计数差值和所述第二计数差值确定所述目标参数，包括：

在所述第一计数差值和所述第二计数差值的平均值等于预设计数差值的情况下，将所述最小参数和所述最大参数的平均值确定为所述目标参数。

5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一计数差值和所述第二计数差值确定所述目标参数，包括：

在所述第一计数差值和所述第二计数差值的平均值大于所述预设计数差值的情况下，将所述最小参数和所述最大参数的平均值加1确定为第一参数；

基于所述第一参数生成第三脉冲信号；

获取所述第三脉冲信号的第三计数差值；

基于所述第三计数差值和所述第二计数差值确定所述目标参数。

6.根据权利要求3至5中任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一计数差值和所述第二计数差值确定所述目标参数，包括：

在所述第一计数差值和所述第二计数差值的平均值小于所述预设计数差值的情况下，将所述最小参数和所述最大参数的平均值减一确定为第二参数；

基于所述第二参数生成第四脉冲信号；

获取所述第四脉冲信号的第四计数差值；

基于所述第四计数差值和所述第一计数差值确定所述目标参数。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取至少一个脉冲信号的计数差值，包括：

获取所述晶体基于所述多个参数分别生成的多个脉冲信号；

获取所述多个脉冲信号对应的多个计数差值；

其中，所述基于所述至少一个脉冲信号的计数差值确定目标参数，包括：

利用二分法，获取所述多个计数差值中的与预设计数差值最接近的目标计数差值；

将所述目标计数差值对应的参数确定为所述目标参数。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

按照升序或降序对所述多个计数差值进行排序。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其特征在于，所述多个参数的参数数值随着脉冲信号的频率的增大而减小。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述多个参数的参数数值与脉冲信号的频率成反比。

11.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述获取至少一个脉冲信号的计数差值，包括：

按照参数值升序或降序的顺序，依次获取至少一个脉冲信号的计数差值。