[发明专利]晶体校准的方法、芯片和蓝牙耳机在审

专利信息
申请号: 202080001624.9 申请日: 2020-01-03
公开(公告)号: CN111819787A 公开(公告)日: 2020-10-23
发明(设计)人: 林飞 申请(专利权)人: 深圳市汇顶科技股份有限公司
主分类号: H03B5/04 分类号: H03B5/04;H04R1/10
代理公司: 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 代理人: 毋小妮;毛威
地址: 518045 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 晶体 校准 方法 芯片 蓝牙 耳机
【说明书】:

提供了一种晶体校准的方法、芯片和蓝牙耳机。所述方法包括:获取至少一个脉冲信号的计数差值,所述至少一个脉冲信号包括所述晶体基于多个参数中的至少一个参数生成的脉冲信号,所述至少一个脉冲信号中每一个脉冲信号的计数差值为利用由参考脉冲信号触发的两次外部中断获取的基于相应脉冲信号的系统滴答计数值之间的差值;基于所述至少一个脉冲信号的计数差值确定目标参数;将基于所述目标参数生成的脉冲信号确定为晶体校准后的脉冲信号。通过所述至少一个脉冲信号的计数差值确定所述目标参数,不仅能够实现脉冲信号的自动校准降低了人力成本,还能够在降低校准机制的复杂度的同时提高校准效率。

技术领域

本申请实施例涉及电子领域,并且更具体地,涉及晶体校准的方法、芯片和蓝牙耳机。

背景技术

单片机在运行的时候,需要一个脉冲信号,作为自己执行指令的触发信号。通常情况下,采用与单片机的应用电路外接的晶体以及与所述晶体连接的外部电容配合产生所述脉冲信号。所述晶体具有标称的负载电容值,当所述负载电容值与所述外部电容的真实电容值接近或者相等时,所述晶体产生的脉冲信号的频率是最准的。

但是,同一批次的物料参数不会完全一致,物料参数的波动会导致同一个厂商生产的同一批晶体的负载电容、同一个厂商生产的同一批外部电容的容值等产品参数都会在一定范围内变化,进而导致晶体产生的脉冲信号的频率不够精准。

发明内容

提供了一种晶体校准的方法、芯片和蓝牙耳机,能够实现晶体自动校准。

第一方面,提供了一种晶体校准的方法,适用于具有晶体的芯片,所述方法包括:

获取至少一个脉冲信号的计数差值,所述至少一个脉冲信号包括所述晶体基于多个参数中的至少一个参数生成的脉冲信号,所述至少一个脉冲信号中每一个脉冲信号的计数差值为利用由参考脉冲信号触发的两次外部中断获取的基于相应脉冲信号的系统滴答计数值之间的差值;

基于所述至少一个脉冲信号的计数差值确定目标参数;

将基于所述目标参数生成的脉冲信号确定为晶体校准后的脉冲信号。

通过所述至少一个脉冲信号的计数差值确定所述目标参数,不仅能够实现脉冲信号的自动校准降低了人力成本,还能够在降低校准机制的复杂度的同时提高校准效率。

在一些可能实现的方式中,所述获取至少一个脉冲信号的计数差值,包括:

利用二分法获取所述至少一个脉冲信号的计数差值。

通过二分化获取至少一个脉冲信号的计数差值,避免了获取所有的脉冲信号的计数差值,降低了需要获取的计数差值的总量,能够在保证校准准确度的同时,提高校准效率并减少时间成本。

在一些可能实现的方式中,所述利用二分法获取所述至少一个脉冲信号的计数差值,包括:

确定多个参数中的最小参数和最大参数;

基于最小参数和最大参数分别生成第一脉冲信号和第二脉冲信号;

分别获取所述第一脉冲信号的第一计数差值和第二脉冲信号的第二计数差值;

其中,基于所述至少一个脉冲信号的计数差值确定目标参数,包括:

基于所述第一计数差值和所述第二计数差值确定所述目标参数。

在一些可能实现的方式中,所述基于所述第一计数差值和所述第二计数差值确定所述目标参数,包括:

在所述第一计数差值和所述第二计数差值的平均值等于预设计数差值的情况下,将所述最小参数和所述最大参数的平均值确定为所述目标参数。

在一些可能实现的方式中,所述基于所述第一计数差值和所述第二计数差值确定所述目标参数,包括:

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