[发明专利]基于突起斜率检测写辅助元件异常的数据存储装置

权利要求书

1.一种数据存储装置，其包括：

磁盘；

在所述磁盘上方致动的磁头，其中所述磁头包括写辅助元件；以及

控制电路，其配置成：

使用所述磁头在所述写辅助元件的辅助下将数据写入所述磁盘；

周期性地测量所述磁头朝向所述磁盘的突起以获得多个测量值；以及

当预定滑动时间窗内产生的突起测量的所述多个测量值的斜率平均为正时，检测到所述写辅助元件异常。

2.根据权利要求1所述的数据存储装置，其中所述写辅助元件包括近场传感器(NFT)。

3.根据权利要求2所述的数据存储装置，其中所述写辅助元件进一步包括激光器，并且所述控制电路进一步配置成：

向所述激光器施加写电流以将所述数据写入所述磁盘；以及

当测量所述磁头的所述突起时，向所述激光器施加非零测试电流，其中所述写电流的振幅不同于所述非零测试电流的振幅。

4.根据权利要求3所述的数据存储装置，其中所述控制电路进一步配置成调整所述写电流的所述振幅，以补偿所述写辅助元件随时间推移的变化。

5.根据权利要求1所述的数据存储装置，其中所述控制电路进一步配置成当所述突起测量的所述斜率指示所述突起减少时检测到所述写辅助元件正常。

6.根据权利要求1所述的数据存储装置，其中所述控制电路进一步配置成当所述突起测量的所述斜率指示所述突起保持基本恒定时检测到所述写辅助元件正常。

7.一种数据存储装置，其包括：

磁盘；

在所述磁盘上方致动的磁头，其中所述磁头包括写辅助元件，所述写辅助元件包括激光器和近场传感器(NFT)；以及

控制电路，其配置成：

向所述激光器施加写电流以辅助所述磁头将数据写入所述磁盘；

当测量所述磁头朝向所述磁盘的突起时，向所述激光器施加非零测试电流；

周期性地向所述激光器施加所述非零测试电流，以测量所述磁头朝向所述磁盘的所述突起以获得多个测量值；以及

当预定滑动时间窗内产生的突起测量的所述多个测量值的斜率平均为正时，检测到所述写辅助元件异常。

8.根据权利要求7所述的数据存储装置，其中所述磁头包括写元件和读元件。

9.根据权利要求7所述的数据存储装置，其中所述控制电路进一步配置成周期性地调整所述写电流的振幅，以补偿所述写辅助元件随时间推移的变化。

10.根据权利要求7所述的数据存储装置，其中所述控制电路进一步配置成当所述突起测量的所述斜率指示所述突起减少时检测到所述写辅助元件正常。

11.根据权利要求7所述的数据存储装置，其中所述控制电路进一步配置成当所述突起测量的所述斜率指示所述突起保持基本恒定时检测到所述写辅助元件正常。

12.一种数据存储装置，其包括：

磁盘；

在所述磁盘上方致动的磁头，其中所述磁头包括写辅助元件；

用于使用所述磁头在所述写辅助元件的辅助下将数据写入所述磁盘的构件；

用于周期性地测量所述磁头朝向所述磁盘的突起以获得多个测量值的构件；以及

用于当预定滑动时间窗内产生的突起测量的所述多个测量值的斜率平均为正时检测到所述写辅助元件异常的构件。

13.根据权利要求12所述的数据存储装置，其中所述写辅助元件包括近场传感器(NFT)。