[发明专利]基于突起斜率检测写辅助元件异常的数据存储装置

说明书

公开一种数据存储装置，其包括在磁盘上方致动的磁头，其中所述磁头包括写辅助元件。使用所述写辅助元件将数据写入所述磁盘。周期性地测量所述磁头朝向所述磁盘的突起，并且当突起测量的斜率指示所述突起增加时，检测到所述写辅助元件异常。

相关申请的交叉引用

本申请要求2019年7月22日提交的第16/518,918号美国专利申请的优先权，所述美国专利申请以全文引用的方式并入本文中。

背景技术

例如磁盘驱动器的数据存储装置包括磁盘和连接到致动器臂的远端的磁头，所述致动器臂由音圈电机(VCM)围绕枢轴旋转以将磁头径向地定位在磁盘上。磁盘包括用于记录用户数据扇区和伺服扇区的多个径向间隔的同心磁道。伺服扇区包括磁头定位信息(例如，磁道地址)，其由磁头读取并由伺服控制系统进行处理，以在致动器臂在磁道之间搜寻时控制致动器臂。

通常通过调制感应线圈(写线圈)中的写电流以在被称为饱和记录的过程中将磁跃迁记录到磁盘表面上而将数据写入磁盘。在读回期间，由读元件(例如，磁阻元件)感测磁跃迁，并且通过合适的读通道对由此产生的读信号进行解调。热辅助磁记录(HAMR)是一项最新发展，通过在写操作期间加热磁盘表面以降低磁介质的矫顽性从而使写线圈产生的磁场更容易磁化磁盘表面来提高写入数据的质量。在HAMR记录中，可以采用任何合适的技术来加热磁盘表面，例如通过为激光二极管和近场传感器(NFT)制造磁头的其它写组件。微波辅助磁记录(MAMR)也是一项最新发展，通过使用自旋转矩振荡器(STO)对接近磁颗粒共振频率的介质施加高频辅助磁场从而使写线圈产生的磁场更容易磁化磁盘表面来提高写入数据的质量。

附图说明

图1A示出根据实施例的呈磁盘驱动器形式的数据存储装置，其包括在磁盘上方致动的磁头。

图1B示出根据实施例的磁头，其包括写线圈和写辅助元件，例如HAMR激光二极管和近场传感器(NFT)或MAMR STO。

图1C是根据实施例的流程图，其中周期性地测量磁头的突起，并且当突起测量的斜率指示突起减少时检测到写辅助元件异常。

图2A-2D示出其中突起测量的斜率为负的实例，在一个实施例中，突起测量的斜率为负指示写辅助元件正常。

图3A-3B示出其中突起测量的斜率为正的实例，在一个实施例中，突起测量的斜率为正指示写辅助元件异常。

图4是根据实施例的流程图，其中在写操作期间向写辅助元件施加经过校准的写电流，并且在测量突起时向写辅助元件施加非零测试电流。

图5示出其中与测量磁头突起时施加到激光器的恒定测试电流相比施加到HAMR磁盘驱动器的激光器的经过校准的写电流随时间推移而变化的实施例。

具体实施方式

图1A示出根据实施例的呈磁盘驱动器形式的数据存储装置，其包括在磁盘4上方致动的磁头2，其中所述磁头包括写辅助元件6(图1B)。磁盘驱动器还包括配置成执行图1C的流程图的控制电路8，其中使用写辅助元件将数据写入磁盘(框10)，并且周期性地测量磁头朝向磁盘的突起(框12)。当突起测量的斜率指示突起增加时，检测到写辅助元件异常(框14)。