[发明专利]用于产生待记录对象的全景断层成像图像的方法和设备在审
申请号: | 202080006513.7 | 申请日: | 2020-02-25 |
公开(公告)号: | CN113164154A | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
发明(设计)人: | S·艾克纳;M·赫尔斯布施 | 申请(专利权)人: | 希罗纳牙科系统有限公司;登士柏希罗纳有限公司 |
主分类号: | A61B6/14 | 分类号: | A61B6/14;A61B6/00;A61B6/03 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 汪晶晶 |
地址: | 德国本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 产生 记录 对象 全景 断层 成像 图像 方法 设备 | ||
本发明涉及一种使用2D全景X射线设备(3)产生待记录对象(2)的全景断层成像图像(1,11,60)的方法,在该过程中,借助于X射线源(5)产生的X射线(4)照射对象(2)并借助于X射线检测器(7)获取该X射线(4),其中,在X射线源(5)和X射线检测器(7)围绕对象(2)移动期间,从不同的获取方向(6)获取多个2D X射线投影图像(30)。使用重构方法根据获取的2D X射线投影图像(30)计算第一全景断层成像图像(1),其中使用修改方法来修改获取的2D X射线投影图像(30),其中根据经修改的2D X射线投影图像(40,50)并使用重构方法,以伪影(20)相对于解剖结构(17,18,19)的更高加权来计算第二全景断层成像图像(11),其中计算具有显著减少的伪影的第三全景断层成像图像(60)。
技术领域
本发明涉及一种使用2D全景X射线设备产生待记录对象的全景断层成像图像的方法,在其过程中,借助于X射线源产生的X射线照射对象并借助于X射线检测器获取该X射线,其中,在X射线源和X射线检测器围绕对象移动期间,从不同的获取方向获取多个2DX射线投影图像。
背景技术
从现有技术中已知多种产生全景断层成像图像的方法。
DE 102008008733 A1公开了一种用于从3D体积创建全景断层成像图像的方法,其中用虚拟X射线源虚拟照射待记录对象,并用虚拟检测器获取虚拟结果图像。虚拟照射中不需要的结构可以被虚拟去除。
DE 10016678 A1公开了一种用于照射对象的方法,其中以如下方式照射待检查对象,使得具有高吸收率的干扰对象(诸如金属填充物)优选地不干扰颚部的另一半的图像。在这种情况下,特别地将束角调整到解剖结构(即,牙齿)。
DE 102010040096 A1公开了一种用于从3D体积创建图像的方法,其中根据定义的照射方向计算多个虚拟投影图像。当计算投影图像时,相关区域的加权可以比不相关区域的加权更大。干扰的部分对象(诸如填充物或颚骨)可以从部分体积中切出,或者可以提供有较小的加权,以改善对由该部分体积所包围的部分对象(诸如牙齿)的检查。
所提到的方法的一个缺点是,伪影校正是通过切出干扰的部分对象或通过对所述部分对象的轻微加权来虚拟进行的。对于患者来说,3D图像的辐射暴露常常也比2D图像大。在3D体积上计算的虚拟全景断层成像图像的分辨率低于经典2D全景断层成像图像的分辨率。
因此,本发明的一个目的是提供一种用于产生2D全景断层成像图像的方法,该方法允许自动且简单地减少伪影(例如,相对颚部伪影)。
发明内容
本发明涉及一种使用2D全景X射线设备产生待记录对象的全景断层成像图像的方法。在此过程中,借助于X射线源产生的X射线照射对象并借助于X射线检测器获取该X射线,其中,在X射线源和X射线检测器围绕对象移动期间,从不同的获取方向获取多个2DX射线投影图像。使用重构方法根据获取的2D X射线投影图像计算第一全景断层成像图像。随后,使用修改方法来修改获取的2D X射线投影图像,其中,根据经修改的2D X射线投影图像并使用重构方法,以伪影(例如,相对于解剖结构的,相对颚部伪影)的更高加权计算第二全景断层成像图像,其中通过将第一全景断层成像图像和第二全景断层成像图像以定义的加权因子进行组合来计算第三全景断层成像图像,使得与第一全景断层成像图像相比,第三全景断层成像图像中的伪影得到减少。
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