[发明专利]高速输入/输出裕度测试的系统、方法和设备

权利要求书

1.一种测试设备，包括：

一个或多个印刷电路板(PCB)；

至少一个接口，耦合到一个或多个PCB；以及

控制器，耦合到至少一个接口，所述控制器被配置成建立受测设备(DUT)的单通道或多通道高速输入/输出(I/O)链路，并且使测试设备在发射(Tx)和接收(Rx)方向中的任一个或两者上评估单通道或多通道高速I/O链路的电裕度。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其中，所述至少一个接口包括至少一个通道，所述至少一个通道被配置成连接到至少一个测试固定装置以在Tx和Rx方向中的任一个或两者上评估DUT的单通道或多通道高速I/O链路的电裕度。

3.根据权利要求2所述的测试设备，其中，所述至少一个通道包括多个通道，并且其中，所述控制器被配置成支持用于测试设备的多个不同协议以测试各自根据不同协议操作的多个不同设备，并且提供选项以针对不同设备角色和多个不同协议配置多个通道。

4.根据权利要求3所述的测试设备，其中，所述多个通道被配置成连接到至少一个测试固定装置，以评估以下各项中的一项或多项的多通道高速I/O链路的电裕度：主板和插入卡。

5.根据权利要求3所述的测试设备，其中，所述多个通道被配置成连接到测试固定装置，以评估至少一个主板和至少一个插入卡的多通道高速I/O链路的电裕度。

6.根据权利要求4所述的测试设备，其中，所述至少一个测试固定装置包括以下中的一个或多个：快速外围组件互连(快速PCI)兼容负载板(CLB)和快速PCI兼容基座板(CBB)。

7.根据权利要求1所述的测试设备，其中，所述DUT的单通道或多通道高速I/O链路是没有特殊测试模式的完全运行的操作链路。

8.根据权利要求1所述的测试设备，其中，所述一个或多个PCB包括插入卡的PCB，并且所述DUT是主板，所述插入卡被配置成被插入到主板上的连接器中，以实现用于单通道或多通道高速I/O链路的每个通道的物理和链路逻辑层。

9.根据权利要求8所述的测试设备，其中，所述插入卡是快速PCI插入卡。

10.根据权利要求1所述的测试设备，其中，所述控制器被配置成通过至少被配置成在裕度测试发射器上注入可调整应力来评估单通道或多通道高速I/O链路的电裕度，所述可调整应力包括以下中的一个或多个：眼宽开口的减小和眼高开口的减小。

11.根据权利要求10所述的测试设备，其中，所述控制器被配置成通过至少被配置成通过在裕度测试发射器上注入抖动来注入眼宽开口的减小来评估单通道或多通道高速I/O链路的电裕度，抖动的注入可选择为同时应用于单通道或多通道高速I/O链路的所有通道上，或者在单通道或多通道高速I/O链路中的每个通道上独立地应用。

12.根据权利要求10所述的测试设备，其中，所述控制器被配置成通过至少被配置成通过在裕度测试发射器上注入噪声来注入眼高开口的减小来评估单通道或多通道高速I/O链路的电裕度，噪声的注入可选择为同时应用在单通道或多通道高速I/O链路的所有通道上，或者在单通道或多通道高速I/O链路中的每个通道上被独立地应用。

13.根据权利要求10所述的测试设备，其中，所述控制器被配置成通过至少被配置成通过在裕度测试发射器上注入差分噪声来注入眼宽和眼高开口的减小来评估单通道或多通道高速I/O链路的电裕度，差分噪声的注入可选择为同时应用在单通道或多通道高速I/O链路的所有通道上，或者在单通道或多通道高速I/O链路中的每个通道上独立地应用。