[发明专利]包含4,4’-二氯二苯亚砜晶体（C）的晶体组合物（CC）

权利要求书

1.包含晶体(C)的晶体组合物(CC)，其中晶体(C)由以下物质组成：

(a)至少95重量％的4，4’-二氯二苯亚砜，

(b)0至2重量％的杂质，和

(c)0至3重量％的有机溶剂(os)，

基于晶体组合物(CC)中含有的晶体(C)的总重量计，其中所述晶体组合物(CC)具有

100至400μm的d10_，3-值，

300至800μm的d50_，3-值，和

700至1500μm的d90_，3-值，

其中d10_，3-值低于d50_，3-值，并且d50_，3-值低于d90_，3-值。

2.根据权利要求1所述的晶体组合物(CC)，其中所述晶体组合物(CC)包含至少95重量％的晶体(C)，基于晶体组合物(CC)的总重量计。

3.根据权利要求1或2所述的晶体组合物(CC)，其中晶体组合物(CC)显示600至950kg/m³的堆积密度。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的晶体组合物(CC)，其中晶体(C)的平均长宽比为0.2至1。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的晶体组合物(CC)，其中晶体(C)的平均球形度为0.75至0.85。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的晶体组合物(CC)，其中豪斯纳比为1.05至1.27。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的晶体组合物(CC)，其中晶体(C)的晶胞为单斜晶胞，空间群为C 2/m，晶胞长度晶胞角度α90°±0.1°，β95.7°±0.1°，γ90°±0.1°，晶胞体积

8.晶体(C)，由以下物质组成：

(a)至少95重量％的4，4’-二氯二苯亚砜，

(b)0至2重量％的杂质，和

(c)0至3重量％的有机溶剂(os)，

在每种情况下基于晶体(C)的总重量计，其中所述晶体(C)的外表面包含

i)六边基面(bsu)，和

ii)六边顶面(tsu)，和

iii)六个侧面(ssu1至ssu6)，其连接所述六边基面(bsu)和所述六边顶面(tsu)的相应侧。

9.根据权利要求8所述的晶体(C)，其中六边基面(bsu)、六边顶面(tsu)和六个侧面(ssu1至ssu6)占晶体(C)外表面的至少90％。

10.根据权利要求8或9所述的晶体(C)，其中六边基面(bsu)的直径(db)和六边顶面(tsu)的直径(dt)各自独立地为50至1500μm。

11.根据权利要求8至10中任一项所述的晶体(C)，其中所述第一侧面(ssu1)的长度(l1)、第二侧面(ssu1)的长度(l2)、第三侧面(ssu3)的长度(l3)、第四侧面(ssu4)的长度(l4)、第五侧面(ssu5)的长度(l5)和第六侧面(ssu6)的长度(l6)各自独立地为100至3000μm。

12.根据权利要求8至11中任一项所述的晶体(C)，其中直径(db)和直径(dt)的平均值与长度(l1)、长度(l2)、长度(l3)、长度(l4)、长度(l5)和长度(l6)的平均值的比为0.2至1。

13.根据权利要求8至12中任一项所述的晶体(C)，其中杂质(b)包含至少90重量％的一种或多种选自以下的化合物：2，4’-二氯二苯亚砜、3，4’-二氯二苯亚砜、2，2’-二氯二苯亚砜、4，4’-二氯二苯硫醚和一种或多种铝化合物，基于晶体(C)中所包含的杂质(b)的总重量计。