[发明专利]与纳米线尺寸相关的纳米线印墨表现

说明书

一种用于在制造透明导电膜之前预测从含有纳米线的印墨制得的透明导电膜的至少一种表现性质的方法。该方法包括从印墨取得纳米线母群以用于分析。该方法包括对来自印墨的母群内的所有纳米线测定长度与直径的至少一者。该方法包括比较所测定的长度与直径的至少一者与一数值指数，该数值指数是与待制造的透明导电膜的至少一种表现性质相关联。

相关申请

本申请案主张于2019年4月3日提出申请的名称为“印墨”的第62/828,674号美国临时申请案的优先权，该申请案以引用方式并入本文中。

技术领域

本发明是关于纳米线(nanowire)尺寸(dimension)的评估，目的在于预测透明导电膜(transparent conductive film)的光学表现(optical performance)，所述透明导电膜可使用含有这些纳米线的印墨(ink)而制造。

背景技术

透明导电膜包括光学透明及电学上可传导的膜(optically-clear andelectrically-conductive films)，例如通常使用于触摸感应式计算机显示器(touch-sensitive computer display)的那些。一般而言，导电纳米线是彼此连接而形成具有长程互连性(long-range interconnectivity)的交络网络(percolating network)。所述交络网络是连接至计算机、平板计算机、智能手机、或其他计算装置(computing device)的电子电路(electronic circuit)。

在透明导电膜的生产过程中，是使用印墨。印墨是最低限度地含有悬浮于溶剂(例如水或IPA(isopropyl alcohol，异丙醇))中的纳米线，以及额外的选用成分以改善涂覆品质，例如粘结剂(binder)、界面活性剂(surfactant)、共溶剂(co-solvent)等。典型上期望生产含有纳米线的印墨，其将最终生产具有至少一种期望的表现性质(performanceproperty)的透明导电膜，所述表现性质例如为光学表现性质。然而，对所生产的透明导电膜是否具有期望的表现性质的测定是在生产透明导电膜之后发生。若所生产的透明导电膜不具有期望的表现性质，此可能导致有关生产的时间、材料及费用的浪费。

发明内容

根据一方案，本发明是提供一种用于预测从含有纳米线的印墨制得的透明导电膜的至少一种表现性质的方法。该方法包括从印墨取得纳米线母群(population)以用于分析。该方法包括对来自印墨的母群内的所有纳米线测定长度与直径的至少一者。该方法包括比较所测定的长度与直径的至少一者与一数值指数(value index)，该数值指数是与待制造的透明导电膜的至少一种表现性质相关联。

上述摘要是呈现出简单的整理以提供对本文中所讨论的系统及/或方法的部分方案的基本理解。此摘要并非本文中所讨论的系统及/或方法的广泛概述。其并不欲识别重要/关键元件或勾画该系统及/或方法的范畴。其唯一目的在于以简化形式呈现出部分概念，作为之后呈现的更详细说明的序言。

附图说明

尽管本文中所呈现的技术可用替代形式实施，附图中所描绘的特定实施态样是仅为补充本文中所提供说明的少数实例。这些实施态样并非被诠释为例如限定所附权利要求书的限定方式。

所揭露的主题(subject matter)可在某些部件及部件的配置上采取实体形式，其实施态样将于本说明书中详细说明并于形成本说明书的一部分的后附附图中描绘，且其中：

图1为根据本发明的一态样的例示性方法的流程图。

图2A及2B为纳米线的例示性批次的直径对长度的图表。

图3A及3B为纳米线的例示性批次的直径对长度的图表。

图4为纳米线的例示性批次的百分比雾度(percent haze)对片电阻(sheetresistance)的图表。