[发明专利]用于自动检验开关器件的方法和设备在审
| 申请号： | 202080014441.0 | 申请日： | 2020-02-12 |
| 公开（公告）号： | CN113454475A | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | H.希尔林 | 申请（专利权）人： | 西门子股份公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 刘畅 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 自动 检验 开关 器件 方法 设备 | ||
1.一种用于自动检验包括至少一个可电切换的开关元件(14)的开关器件(10)的功能性的方法，其中，SiC功率半导体或GaN功率半导体用作开关元件(14)，
其中，所述或每个开关元件(14)的开关状态通过开关元件(14)的控制输入端(16)并且借助由控制单元(12)产生的并且输出到所述控制输入端(16)的控制信号(30)来影响，
其中，将激活信号(44)输出到控制单元(12)，所述激活信号导致控制信号(30)的改变，其中，所述激活信号(44)引起检验信号(46)作为控制信号(30)的改变，并且引起切断脉冲(46)作为检验信号(46)，其中，在SiC功率半导体或GaN功率半导体在反向方向上传导电流期间，所述SiC功率半导体或GaN功率半导体借助所述切断脉冲(46)被切断，
其中，采集SiC功率半导体或GaN功率半导体上的电压降作为对切断脉冲(46)的响应，
其中，实施标识(50)与参考(52)之间的比较，所述标识编码SiC功率半导体或GaN功率半导体上的采集到的电压降，所述参考编码对切断脉冲(46)的预期的响应，并且
其中，依据比较结果产生状态信号(56)，所述状态信号对开关器件(10)的功能性进行编码。
2.一种用于自动检验包括至少一个可电切换的开关元件(14)的开关器件(10)的功能性的检验设备(40)，其中，SiC功率半导体或GaN功率半导体用作开关元件(14)，
其中，所述或每个开关元件(14)的开关状态能够通过开关元件(14)的控制输入端(16)并且借助能够由控制单元(12)产生的并且输出到所述控制输入端(16)的控制信号(30)来影响，
其中，借助所述检验设备(40)能够将激活信号(44)输出到控制单元(12)，所述激活信号导致控制信号(30)的改变，其中，所述激活信号(44)引起检验信号(46)作为控制信号(30)的改变，并且引起切断脉冲(46)作为检验信号(46)，其中，在SiC功率半导体或GaN功率半导体在反向方向上传导电流期间，所述SiC功率半导体或GaN功率半导体能够借助所述切断脉冲(46)被切断，
其中，借助所述检验设备(40)能够采集SiC功率半导体或GaN功率半导体上的电压降作为对切断脉冲(46)的响应，
其中，借助所述检验设备(40)能够实施标识(50)与参考(52)之间的比较，所述标识编码SiC功率半导体或GaN功率半导体上的采集到的电压降，所述参考编码对改变的控制信号(30)的预期的响应，并且
其中，借助所述检验设备(40)能够依据比较结果产生状态信号(56)，所述状态信号对开关器件(10)的功能性进行编码。
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