[发明专利]用于自动检验开关器件的方法和设备

说明书

本发明涉及一种用于检验包括至少一个开关元件(14)的开关器件(10)的功能性的方法以及一种相应的检验设备(40)，其中，SiC功率半导体或GaN功率半导体用作开关元件(14)，其中，该或每个开关元件(14)的开关状态通过开关元件(14)的控制输入端(16)并且借助由控制单元(12)产生的并且输出到控制输入端(16)的控制信号(30)来影响，其中，将激活信号(44)输出到控制单元(12)，该激活信号导致控制信号(30)的改变，其中，激活信号(44)引起检验信号(46)作为控制信号(30)的改变，并且引起切断脉冲(46)作为检验信号(46)，其中，在SiC功率半导体或GaN功率半导体在反向方向上传导电流期间，其借助切断脉冲(46)被切断，其中，采集SiC功率半导体或GaN功率半导体上的电压降作为对切断脉冲(46)的响应，其中，实施标识(50)与参考(52)之间的比较，该标识编码SiC功率半导体或GaN功率半导体上的采集到的电压降，该参考编码对切断脉冲(46)的预期的响应，并且其中，依据比较结果产生状态信号(56)，该状态信号对开关器件(10)的功能性进行编码。

技术领域

本发明涉及一种开关器件的功能监控，并且在这方面涉及一种用于自动检验包括至少一个开关元件的开关器件的功能性的方法和设备。开关器件在此和下文中是指开关和保护器件、即在连接到电网、尤其是直流电网的耗电器或具有多个耗电器的网络分支/负载区域的上游连接的开关和保护器件。这种开关和保护器件包括至少一个可电切换的开关元件，并且在故障情况下将耗电器或负载区域与馈电侧分离。这是开关和保护器件的保护功能。同样也可以借助开关和保护器件通过作用到开关和保护器件上的开关指令导致切断该或每个连接至开关和保护器件的耗电器以及从开关和保护器件出发的负载区域。这是开关和保护器件的开关功能。

背景技术

这种开关器件的功能性对于具有至少一个这样的开关器件的系统(即电网、尤其是直流电网)的可用性来说是必不可少的。

开关器件的故障迄今被认为是残余风险。因此可以接受的是，在故障情况下，具有连接到相应的电网的耗电器的设施的大部分会停止，例如因为并联的负载区域的开关器件和/或在电网内等级更高地定位的开关器件由于开关器件的故障而做出响应。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于，提供一种用于自动检验包括至少一个可电切换的开关元件的开关器件的功能性的方法。本发明所要解决的技术问题还在于，提供一种用于自动检验开关器件的检验设备、即用于自动检验包括至少一个可电切换的开关元件的开关器件的功能性的检验设备。

该技术问题借助具有方法权利要求1的特征的检验方法来解决。该技术问题借助具有设备权利要求2的特征的规定用于自动检验开关器件的功能性的检验设备来解决。

在用于自动检验包括至少一个可电切换的开关元件的开关器件的功能性的方法中，SiC功率半导体或GaN功率半导体用作开关元件。该或每个开关元件的开关状态通过开关元件的控制输入端并且借助由控制单元产生的并且输出到控制输入端的控制信号来影响。将激活信号输出到控制单元，该激活信号导致控制信号的改变，其中，激活信号引起检验信号作为控制信号的改变，并且引起切断脉冲作为检验信号。在此，在SiC功率半导体或GaN功率半导体在反向方向上传导电流期间，该SiC功率半导体或GaN功率半导体借助切断脉冲被切断。采集响应于切断脉冲的、SiC功率半导体或GaN功率半导体上的电压降。实施标识与参考之间的比较，该标识编码SiC功率半导体或GaN功率半导体上的采集到的电压降，该参考编码对切断脉冲的预期的响应。依据比较结果产生状态信号，该状态信号对开关器件的功能性进行编码。