[发明专利]位置推断装置在审
| 申请号： | 202080014728.3 | 申请日： | 2020-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN113454425A | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 村瀬周平;藤田淳 | 申请（专利权）人： | 日本电产株式会社 |
| 主分类号： | G01D5/244 | 分类号： | G01D5/244;H02P6/16 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 马淑香 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 位置 推断 装置 | ||
1.一种位置推断装置，其特征在于，包括：
修正部，所述修正部导出定子的干扰磁通量的推断值，并基于所述干扰磁通量的推断值对转子的磁体磁通量的检测值进行修正；以及
推断部，所述推断部基于修正后的所述检测值来推断所述转子的位置。
2.如权利要求1所述的位置推断装置，其特征在于，
所述修正部基于所述定子的电流响应值来导出所述干扰磁通量的推断值。
3.如权利要求1所述的位置推断装置，其特征在于，
所述修正部基于所述定子的电流指令值来导出所述干扰磁通量的推断值。
4.如权利要求1所述的位置推断装置，其特征在于，
所述修正部基于所述定子的电压指令值来导出所述干扰磁通量的推断值。
5.如权利要求1所述的位置推断装置，其特征在于，
还包括存储装置，所述存储装置对表示所述定子的电流响应值与所述干扰磁通量的推断值的对应关系的信息即干扰磁通量信息进行存储，
所述修正部基于所述电流响应值和所述干扰磁通量信息来导出所述干扰磁通量的推断值。
6.如权利要求1所述的位置推断装置，其特征在于，
还包括存储装置，所述存储装置对响应值信息和干扰磁通量信息进行存储，其中，所述响应值信息是表示所述定子的电流指令值或电压指令值与所述定子的电流响应值的对应关系的信息，所述干扰磁通量信息是表示所述定子的电流响应值与所述干扰磁通量的推断值的对应关系的信息，
所述修正部基于所述电流指令值或所述电压指令值与所述响应值信息来导出所述电流响应值，并基于导出的所述电流响应值和所述干扰磁通量信息来导出所述干扰磁通量的推断值。
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