[发明专利]位置推断装置在审
申请号: | 202080014728.3 | 申请日: | 2020-01-10 |
公开(公告)号: | CN113454425A | 公开(公告)日: | 2021-09-28 |
发明(设计)人: | 村瀬周平;藤田淳 | 申请(专利权)人: | 日本电产株式会社 |
主分类号: | G01D5/244 | 分类号: | G01D5/244;H02P6/16 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 马淑香 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 位置 推断 装置 | ||
位置推断装置包括修正部和推断部。修正部导出定子的干扰磁通量的推断值。修正部基于干扰磁通量的推断值对转子的磁体磁通量的检测值进行修正。推断部基于修正后的检测值来对转子的位置进行推断。修正部也可以基于定子的电流响应值来导出干扰磁通量的推断值。修正部也可以基于定子的电流指令值或电压指令值来导出干扰磁通量的推断值。位置推断装置也可以还包括存储装置。存储装置也可以对表示定子的电流响应值与干扰磁通量的推断值的对应关系的信息、即干扰磁通量信息进行存储。
技术领域
本发明涉及位置推断装置。
背景技术
近年来,不断推进马达的小型化和薄型化。磁传感器与定子之间的间隔对应马达的小型化和薄型化而变窄,因此,马达的磁传感器有时不仅检测到转子的磁体磁通量,还检测到定子的干扰磁通量。因此,为了使位置推断装置高精度地对转子的位置进行检测,需要位置推断装置对转子的磁体磁通量的检测值进行修正。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利特开2016-133376号公报
专利文献2:日本专利特开2018-163177号公报
专利文献3:日本专利特开2016-169981号公报
发明内容
发明所要解决的技术问题
然而,为了使位置推断装置对转子的磁体磁通量的检测值进行修正,需要转子包括对转子的位置进行检测的位置传感器用的磁体。因此,不利于马达的小型化和薄型化。
鉴于上述情况,本发明的目的在于提供一种位置推断装置,能在转子不包括位置传感器用的磁体的情况下提高转子的位置的推断精度。
解决技术问题所采用的技术方案
本发明的一个方面是一种位置推断装置,包括:修正部,所述修正部导出定子的干扰磁通量的推断值,并基于所述干扰磁通量的推断值对转子的磁体磁通量的检测值进行修正;以及推断部,所述推断部基于修正后的所述检测值来推断所述转子的位置。
发明效果
根据本发明,能在马达的转子不包括位置传感器用的磁体的情况下提高转子的位置的推断精度。
附图说明
图1是表示第一实施方式的马达单元的结构的例子的图。
图2是表示第一实施方式的、由各传感器检测出的磁通量的检测值的例子的图。
图3是表示第二实施方式和第三实施方式的马达单元的结构的例子的图。
图4是表示第四实施方式的马达单元的结构的例子的图。
具体实施方式
参照附图,对本发明的实施方式进行详细说明。
(第一实施方式)
图1是表示马达单元1的结构的例子的图。马达单元1是对马达的转子的旋转位置进行推断的系统。马达单元1包括马达2、放大装置3、位置推断装置4、控制装置5、驱动装置6和电流传感器7。
马达2是电动机,例如是无刷马达、步进马达。马达2既可以是内转子型马达,也可以是外转子型马达。图1所示的马达2作为一例是内转子型马达。马达2包括定子20、转子21和检测装置22。
定子20在U相、V相和W相的各齿(各切槽)上包括绕组。在图1中,定子20包括:四切槽的U相的绕组、四切槽的V相的绕组、四切槽的W相的绕组共计12切槽的绕组。相位各错开120度的三相电流从驱动装置6输入到定子20的齿的绕组中。定子20通过输入到U相、V相和W相的各齿的绕组的三相电流而在转子21和检测装置22的位置产生磁场。
转子21由于受到定子20的磁力而绕中心轴旋转。转子21包括一个以上的磁极对(N极和S极)。在图1中,转子21作为一例包括四个磁极对。转子21由于磁极对从定子20受到磁力而旋转。对磁极对分配有极对编号。极对编号对应区域和区段而标注。
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