[发明专利]用于检查物体的设备和方法

权利要求书

1.一种用于检查物体的设备(1)，其中所述物体由第一层塑料材料和第二层EVO或EVOH组成并具有底壁(A)和相对于所述底壁(A)倾斜的侧壁(B)，所述设备(1)包括：

-其中能够放置所述物体以进行检查的检查区域(10)；

-用于沿着供给平面(P)将所述物体供给到所述检查区域(10)的传送器(12)；

-成像装置(14)，其被配置为观察定位在所述检查区域(10)中的所述物体，捕获波长在2μm到5μm之间的红外线，并根据所述红外线生成所述物体的图像(143)；

-处理器(151)，其连接至所述成像装置(14)以接收所生成的图像(143)并被配置为处理所述图像(143)，以检查所述第二层，

所述设备的特征在于，所述传送器(12)被配置为将所述物体以所述底壁(A)根据相对于所述供给平面(P)的预定取向定位的方式设置在所述检查区域(10)中。

2.根据权利要求1所述的设备(1)，其特征在于，所述成像装置沿着检查轴线定向，并且所述设备包括偏转系统(18)，所述偏转系统被配置为拦截由所述物体的所述侧壁(B)发射并相对于所述检查轴线倾斜的红外线，并使所述红外线偏转以减小它们相对于所述检查轴线的倾斜度。

3.根据权利要求2所述的设备(1)，其特征在于，所述偏转系统(18)包括第一偏转器(181)和第二偏转器(182)，并且所述第一偏转器(181)被配置为拦截由所述物体的所述侧壁(B)发射的红外线并使该红外线偏转到所述第二偏转器(182)上，所述第二偏转器(182)被配置为进一步使所述红外线偏转，以将它们对准所述成像装置。

4.根据权利要求3所述的设备(1)，其特征在于，所述第一偏转器(181)和所述第二偏转器(182)是对称轴线与所述检查轴线(I)对齐的轴对称体，并且所述第一偏转器(181)在垂直于所述检查轴线(I)的平面中围绕所述第二偏转器(182)。

5.根据权利要求4所述的设备(1)，其特征在于，所述第一偏转器(181)包括相应的平滑反射表面，该平滑反射表面围绕所述检查轴线(I)并且在从所述检查区域(10)向所述成像装置(14)定向的发射方向上会聚在所述检查轴线(I)上，并且所述第二偏转器(182)包括围绕所述检查轴线(I)并且在所述发射方向上会聚在所述检查轴线(I)上的平滑反射表面。

6.根据权利要求5所述的设备(1)，其包括热调节系统(19)，所述热调节系统(19)包括：

-温度计(191)，其被配置为测量所述检查区域(10)的温度；

-控制单元(15)，其被配置为将所述检查区域(10)的温度与参考温度进行比较并根据比较生成热调节信号(154D)；

-加热器(192)，其被配置为根据所述热调节信号(154D)改变所述检查区域(10)的温度。

7.根据权利要求6所述的设备(1)，其包括隔离系统，所述隔离系统包括围绕所述检查区域(10)以将其与其周围环境隔离的至少一个壁(131)。

8.根据前述任一项权利要求所述的设备(1)，其包括发射源(16)，所述发射源(16)被配置为用包括在2μm到5μm之间的波长的红外光束照射所述检查区域(10)中的所述物体。

9.根据权利要求8所述的设备(1)，其特征在于，所述发射源(16)是LED光源。

10.根据前述任一项权利要求所述的设备(1)，其包括干涉滤波器(142)，所述干涉滤波器被配置为过滤对准所述摄像机的光波以阻挡波长小于2μm或大于5μm的光波。

11.根据前述任一项权利要求所述的设备(1)，其包括固定透镜(141)，所述固定透镜连接至所述成像装置(14’)并且被配置为对2μm到5μm之间的波长产生影响。