[发明专利]半导体集成电路装置和半导体集成电路装置的检查方法在审
申请号: | 202080027610.4 | 申请日: | 2020-04-03 |
公开(公告)号: | CN113711065A | 公开(公告)日: | 2021-11-26 |
发明(设计)人: | 佐藤尭生;根本一则;小田部晃 | 申请(专利权)人: | 日立安斯泰莫株式会社 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;H01L21/66 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 集成电路 装置 检查 方法 | ||
1.一种半导体集成电路装置,其特征在于,包括:
模拟电路;
检测模拟电路的输入侧的异常的诊断电路;
与模拟电路输出侧连接的数字信号处理部;
与所述模拟电路的输入侧连接,能够生成多个电压的电压生成电路;和
设置在所述模拟电路与所述电压生成电路之间的开关电路,其在输入了老化切换信号时接通,
所述电压生成电路输出不使所述诊断电路发挥功能的多个电压。
2.根据权利要求1所述的半导体集成电路装置,其特征在于:
所述电压生成电路生成所述模拟电路所需的参考电压(VREF)。
3.根据权利要求1所述的半导体集成电路装置,其特征在于:
所述电压生成电路由电源电位、接地电位以及多个电阻元件构成,
由所述多个电阻元件对所述电源电位进行电阻分压来生成第一输出电压(V1)和第二输出电压(V2)。
4.根据权利要求3所述的半导体集成电路装置,其特征在于:
所述电压生成电路具有串联连接在所述电源电位与所述多个电阻元件之间的开关电路。
5.根据权利要求3所述的半导体集成电路装置,其特征在于:
所述电压生成电路具有串联连接在所述电源电位与所述多个电阻元件之间的调节器或带隙参考(BGR)电路的恒压输出电路,
对所述恒压输出电路的输出进行分压来生成所述第一输出电压(V1)和所述第二输出电压(V2)。
6.根据权利要求1所述的半导体集成电路装置,其特征在于:
所述电压生成电路由电源电位、接地电位以及多个电阻元件构成,
具有串联连接在所述电源电位与所述多个电阻元件之间的调节器或带隙参考(BGR)电路的恒压输出电路,
所述恒压输出电路输出第一输出电压(V1),
由所述多个电阻元件对第一输出电压(V1)进行电阻分压来生成第二输出电压(V2)。
7.根据权利要求1所述的半导体集成电路装置,其特征在于:
所述电压生成电路具有将所述多个电压的输出进行切换的输出电压切换信号生成电路,
所述输出电压切换信号生成电路由所述半导体集成电路装置内的时钟信号和分频器构成。
8.一种半导体集成电路装置,其特征在于,包括:
模拟电路;
检测模拟电路的输入侧的异常的诊断电路;
与模拟电路输出侧连接的数字信号处理部;
与所述模拟电路的输入侧连接,能够生成多个电压的电压生成电路;和
设置在所述模拟电路与所述电压生成电路之间的开关电路,其在输入了老化切换信号时接通,
所述诊断电路在输入了老化切换信号时停止其功能。
9.根据权利要求1所述的半导体集成电路装置,其特征在于:
分别具有多个所述模拟电路和所述诊断电路,
所述多个模拟电路和诊断电路各自与所述电压生成电路并联连接。
10.根据权利要求9所述的半导体集成电路装置,其特征在于:
所述电压生成电路对所述多个模拟电路和诊断电路的每一个生成所述数字信号处理部的激活率最大的电压组。
11.根据权利要求1所述的半导体集成电路装置,其特征在于,包括:
外部连接端子;和
在所述外部连接端子与所述模拟电路之间切断从所述外部连接端子输入的输入信号的开关电路。
12.一种内置有模拟电路及其诊断电路的半导体集成电路装置的检查方法,其特征在于:
所述检查为基于晶片级老化的老化筛选,
在所述晶片级老化时,将不使所述诊断电路发挥功能的电压输入至所述模拟电路和所述诊断电路。
13.根据权利要求12所述的半导体集成电路装置的检查方法,其特征在于:
不使所述诊断电路发挥功能的电压为数字信号处理部的激活率最大的电压。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日立安斯泰莫株式会社,未经日立安斯泰莫株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202080027610.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。