[发明专利]α型塞隆荧光体、发光构件和发光装置

说明书

本发明的α型塞隆荧光体包含α型塞隆粒子，在利用激光衍射散射法测定的该α型塞隆荧光体的体积频度粒度分布中，将累积值为5％的粒径设为D5、将累积值为50％的粒径设为D50、将累积值为98％的粒径设为D98时，((D98－D5)/D50)为1.00～10.00，并且对于波长为455nm的激发光的内量子效率满足75％以上。

技术领域

本发明涉及α型塞隆荧光体、发光构件和发光装置。

背景技术

目前为止，对α型塞隆荧光体进行了各种各样的开发。作为这种技术，例如已知有专利文献1所记载的技术。在专利文献1中记载了调整α型塞隆荧光体的组成成分的技术(专利文献1的权利要求1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2003－124527号公报

发明内容

然而，本发明人进行了研究，结果明确了在上述专利文献1所记载的α型塞隆荧光体中，在外量子效率方面有改善的余地。

近年来，对使用了α型塞隆荧光体的发光装置进行小型化的开发。随之，要求α型塞隆粒子的小粒径化。

然而，对α型塞隆粒子的粒径的研究目前还不能说是充分的。

本发明人着眼于粒径进行了研究，结果发现通过适当去除适度小粒径化了的α型塞隆粒子中包含的微粉，可以提高包含那样的α型塞隆粒子的α型塞隆荧光体的外量子效率。另外，通过使用对于波长为455nm的激发光的内量子效率为75％以上的α型塞隆荧光体，可以进一步提高外量子效率。

基于这样的见解，进一步进行了深入的研究，结果发现：在用激光衍射散射法测定的α型塞隆荧光体的体积频度粒度分布中将累积值为5％的粒径设为D5、将累积值为50％的粒径设为D50、将累积值为98％的粒径设为D98时，以((D98－D5)/D50)作为指标，可以对去除了微粉的α型塞隆粒子的性状稳定地进行评价，通过使用将该指标的((D98－D5)/D50)设为适当的数值范围内且内量子效率为规定值以上的α型塞隆荧光体，可以提高包含α型塞隆粒子的α型塞隆荧光体的外量子效率，完成了本发明。

根据本发明，提供一种α型塞隆荧光体，其包含α型塞隆粒子，

在利用激光衍射散射法测定的该α型塞隆荧光体的体积频度粒度分布中，将累积值为5％的粒径设为D5、将累积值为50％的粒径设为D50、将累积值为98％的粒径设为D98时，

((D98－D5)/D50)为1.00～8.00，

D50为10μm以下，并且

根据下述步骤测定的对于波长为455nm的激发光的内量子效率为75％以上。

(步骤)

(1)将该α型塞隆荧光体用作试样，以表面成为平滑的方式将该试样填充于凹型比色皿。在将该凹型比色皿安装于积分球的开口部后，从发光光源将规定波长的单色光导入到积分球内作为激发光。

在25℃下，对凹型比色皿内的试样照射激发光，利用分光光度计测定来自试样的光谱。由得到的光谱数据算出激发反射光光子数(Qref)和荧光光子数(Qem)。

(2)代替凹型比色皿，使用反射率为99％的标准反射板，除此之外，与上述(1)同样地操作，将标准反射板安装于积分球的开口部，对标准反射板照射激发光，测定波长455nm的激发光的光谱，由得到的光谱数据算出激发光光子数(Qex)。

基于下述式，求出上述内量子效率。

内量子效率＝(Qem/(Qex－Qref))×100

另外，根据本发明，提供一种发光构件，具备：