[发明专利]用于以光学方式检查容器的方法和装置

权利要求书

1.一种用于光学检查容器(2)的方法(100)，其中，所述容器(2)被输送(101)到具有照明单元(3)和照相机(4)的检查单元(10)，所述照明单元(3)从平面发光表面(30)发射光，所述光经由所述容器(2)透射或反射(104)，所述照相机(4)在至少一个照相机图像(I)中捕获(105)所述容器(2)至少之一以及经由各所述容器透射或反射的所述光，并且针对强度信息通过图像处理单元(6)来分析所述至少一个照相机图像(I)，以识别(107)所述容器中的异物(8)和/或缺陷(7)，

其特征在于：

从所述发光表面(30)发射的所述光基于偏振特性、强度特性和/或相位特性被局部编码(103)，并且由所述照相机(4)以使得在所述至少一个照相机图像(I)中所述发光表面(30)的不同发射位置(31-42)能够彼此区分(106)的方式捕获，以及

所述图像处理单元(6)针对所述发射位置(31-42)的位置信息来分析所述至少一个照相机图像(I)，以将所述缺陷(7)与所述异物(8)进行区分(108)。

2.根据权利要求1所述的方法(100)，其中，以局部变化的方式从具有所述偏振特性、所述强度特性和/或所述相位特性的所述发光表面(30)发射所述光，使得具有所述偏振特性、所述强度特性和/或所述相位特性的所述不同发射位置(31-42)各自被不同地编码，并且所述照相机(4)在所述至少一个照相机图像(I)中捕获所述偏振特性、所述强度特性和/或所述相位特性作为所述位置信息。

3.根据权利要求1或2所述的方法(100)，其中，所述图像处理单元(6)针对具有偏离周围区域(U1)的强度信息的第一局部区域(8’)来分析所述至少一个照相机图像(I)，以得出存在异物(8)的结论。

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法(100)，其中，所述图像处理单元(6)针对具有偏离周围区域(U2)的位置信息的第二局部区域(7’)来分析所述至少一个照相机图像(I)，以得出存在缺陷(7)的结论。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法(100)，其中，利用所述图像处理单元(6)，针对所述偏振特性、所述强度特性和/或所述相位特性，将所述至少一个照相机图像(I)分成强度通道(G)和光特性通道(C)，并且所述图像处理单元(6)基于所述强度通道(G)来识别所述异物(8)，并且基于所述光特性通道(C)来识别所述缺陷(7)。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法(100)，其中，所述光从所述发光表面(30)的各自具有时间上不同的强度进程(50-53)的所述发射位置(31-42)发射，以将所述不同发射位置编码为所述强度特性和/或所述相位特性。

7.根据权利要求6所述的方法(100)，其中，所述相位特性包括所述强度进程(50、51)的不同时间偏移(P1、P2)，所述不同时间偏移(P1、P2)针对所述不同发射位置(31-42)而各自不同。

8.根据权利要求6或7所述的方法(100)，其中，所述强度特性包括强度进程(52、53)的不同的光强度时间序列(I1-I12)，所述不同的光强度时间序列(I1-I12)针对所述不同发射位置(31-42)而各自不同。

9.根据权利要求6至8中任一项所述的方法(100)，其中，所述照相机(4)捕获经由所述容器(2)透射或反射的光的传播时间差，以确定所述相位特性。