[发明专利]测距装置、信息处理方法及信息处理装置在审
申请号: | 202080043969.0 | 申请日: | 2020-07-21 |
公开(公告)号: | CN113994232A | 公开(公告)日: | 2022-01-28 |
发明(设计)人: | 加藤弓子;稻田安寿;杉尾敏康;井口贺敬 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G01S7/4865;G01S7/4915 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 高迪 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测距 装置 信息处理 方法 | ||
1.一种测距装置,具备:
发光装置,向不同的方向以及在不同的定时将多个光束朝向场景出射;
受光装置,包含至少1个受光元件,由所述至少1个受光元件检测通过所述光的出射而产生的来自所述场景的反射光;以及
信号处理电路,基于从所述受光装置输出的信号,按每个帧生成输出数据并输出,该输出数据包含表示所述场景中的多个点的位置或者距离的计测数据;
所述输出数据包含:
表示按每个所述帧决定的基准时刻的基准时刻数据;以及
表示按每个所述点决定的与所述基准时刻的差量的时刻差量数据,
在生成1帧的输出数据的期间中的光束的出射次数按每个所述帧而不同。
2.如权利要求1所述的测距装置,
各点的所述时刻差量数据表示:为了取得关于所述点的所述计测数据而使用的所述光被出射的时刻或者所述光被检测出的时刻与所述基准时刻之间的差量。
3.如权利要求1或者2所述的测距装置,
所述受光装置包含以2维排列的多个受光元件的阵列,由所述多个受光元件检测通过各光束的出射而产生的来自所述场景的反射光。
4.如权利要求3所述的测距装置,
所述输出数据包含多个块的数据,该多个块的数据各自包含所述多个点之中的一部分点的所述计测数据,按每个所述块,表示与所述基准时刻的差量的个别的时刻差量数据作为所述块的各点的所述时刻差量数据被记录。
5.如权利要求3或者4所述的测距装置,
各帧的所述基准时刻是为了取得所述帧中的所述计测数据而出射的所述多个光束之中的最初的光束被出射的时刻。
6.如权利要求5所述的测距装置,
关于各点的所述时刻差量数据表示:为了取得关于所述点的所述计测数据而出射的光束的出射时刻与为了取得关于之前刚取得所述计测数据的其他点的所述计测数据而出射的光束的出射时刻之间的差量。
7.如权利要求3至6中任一项所述的测距装置,
在各帧的测距动作中,所述发光装置将所述多个光束以一定的时间间隔出射,
各帧中的所述基准时刻是为了取得所述帧中的所述计测数据而最初出射的光束的出射时刻,
所述帧中的各点的所述时刻差量数据包含:表示为了取得关于所述点的所述计测数据而出射的光束的序号的数据、以及表示所述多个光束的时间间隔的数据。
8.如权利要求1至7中任一项所述的测距装置,
所述信号处理电路生成包含所述多个点的3维坐标的信息的点群数据作为所述输出数据。
9.如权利要求1至7中任一项所述的测距装置,
所述信号处理电路生成表示所述多个点的距离分布的距离图像数据作为所述输出数据。
10.如权利要求1至9中任一项所述的测距装置,
关于各点的所述差量时刻数据的量比关于各帧的所述基准时刻数据的量小,
所述基准时刻数据以微秒为单位或者以纳秒为单位表现所述时刻差量。
11.如权利要求3所述的测距装置,
所述多个点各自对应于所述多个受光元件中的至少1个,
所述输出数据表示所述时刻差量数据与所述多个受光元件的对应关系。
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