[发明专利]在金属基材或陶瓷基材上的玻璃或玻璃陶瓷包覆层中的包括基材表面的缺陷部位的修复在审

专利信息
申请号: 202080049686.7 申请日: 2020-06-29
公开(公告)号: CN114096503A 公开(公告)日: 2022-02-25
发明(设计)人: O·克纳夫 申请(专利权)人: 奥梅拉斯表面处理和金属加工有限公司
主分类号: C04B41/86 分类号: C04B41/86;C23D13/02;C23D5/08
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 殷骏
地址: 德国劳特-*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 金属 基材 陶瓷 玻璃 覆层 中的 包括 表面 缺陷 部位 修复
【权利要求书】:

1.用于修复玻璃或玻璃陶瓷包覆层中的至少一个缺陷部位的方法,以及用于修复在金属基材或陶瓷基材表面上的缺陷部位的方法,其中玻璃或玻璃陶瓷包覆层设置在金属或陶瓷基材上,

其中该方法包括以下方法步骤:

·将釉料粉末或搪瓷釉浆作为涂层材料通过涂覆方法施加到所述至少一个缺陷部位上,

·去除突出的过量的涂层材料,

·干燥所施加的涂层材料,

·在热量输入的情况下焙烧所施加的涂层材料,包括以下步骤:

-通过激光照射进行第一聚焦的高能热输入,伴随与之相关的照射斑的熔化,

-进行第二散焦的低能热输入,伴随受控制的照射斑的连续冷却,其中所述第二散焦的低能热输入通过激光照射或感应地进行。

2.根据权利要求1或2所述的方法,其中该方法具有至少一个流程,其中根据缺陷部位和处理成效可以多次相继地重复使用各个方法步骤。

3.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,另外包括在施加涂层材料之前探测至少一个缺陷部位和/或在焙烧所施加的涂层材料之后检验所处理的至少一个缺陷部位,其特征在于,借助光学检查和/或电学检查进行所述探测和/或检查,其中

·所述光学检查包括视觉检查,并且

·所述电学检查包括根据DIN EN 14430的高压检查或根据DIN EN ISO 8289的低压检查。

4.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其还包括机械地和/或化学地和/或热地预处理所述至少一个缺陷部位。

5.根据权利要求1至5中任一项所述的方法,其特征在于,通过脉冲式固体激光器在780nm至3μm的近红外范围内进行所述激光照射,其中所述固体激光器构造成Nd:YAG激光器,其脉冲时长为9ns至250ns,并且激光功率为5W至200W。

6.根据权利要求1至6中任一项所述的方法,其特征在于,通过激光修复系统进行所述热量输入,其中在将涂层材料施加到玻璃或玻璃陶瓷包覆层上之前安装该激光修复系统,并且在焙烧玻璃或玻璃陶瓷包覆层之后将其卸下。

7.根据权利要求1至7中任一项所述的方法,其特征在于,所述涂层材料具有与具有所述至少一个缺陷部位的玻璃或玻璃陶瓷包覆层相同的特性,并且形成搪瓷釉浆或具有粒度为0.35至160μm的釉料粉末。

8.根据权利要求1至8中任一项所述的方法,其特征在于,所述涂覆方法选自喷涂方法、涂抹方法、刮涂方法、浇铸方法、流涂方法、浸渍方法、丝网印刷方法和/或喷雾方法。

9.用于修复根据权利要求1至8中任一项所述的缺陷部位的激光修复系统,其包括至少一个可更换的枢转装置、可更换的热辐射装置以及能量供给单元,其特征在于,

·所述激光修复系统可拆卸地设置在玻璃上或玻璃陶瓷包覆层上,·所述热辐射装置可移动地且可拆卸地构造设置在所述枢转装置上,

·所述热辐射装置包括至少一个可更换的激光加工头和至少一个可更换的激光器,

·所述枢转装置具有用于定位热辐射装置的至少两个位置,其中第一位置相应于静止位置且第二位置相应于缺陷部位上方的加工位置。

10.根据权利要求9所述的激光修复系统,其特征在于,所述枢转装置具有至少两个枢转臂,在所述枢转臂上设置有平台,其中热辐射装置安装在该平台上,并且该平台被构造成通过枢转臂沿水平维度在xy方向上相对于搪瓷物件在所述第一与第二位置之间可移动。

11.根据权利要求9或10所述的激光修复系统,其特征在于,该激光修复系统通过至少一个安装在枢转装置的下侧的紧固件可拆卸地设置在玻璃或玻璃陶瓷包覆层上,其中枢转装置的下侧指向玻璃或玻璃陶瓷包覆层。

12.根据权利要求9至11中任一项所述的激光修复系统,其还包括涂覆系统和/或预处理装置和/或探测系统。

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