[发明专利]像素感测电路和集成电路在审
申请号: | 202080062819.4 | 申请日: | 2020-09-28 |
公开(公告)号: | CN114375470A | 公开(公告)日: | 2022-04-19 |
发明(设计)人: | 池承桓;权用重;洪昊成;尹祯培 | 申请(专利权)人: | LX半导体科技有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 像素 电路 集成电路 | ||
1.一种集成电路,包括:
像素感测电路,用于感测布置在面板上的像素的特性;以及
通道选择电路,用于生成通道选择信号,
其中,所述像素感测电路包括要被测试以用于感测的多个通道电路,接收所述通道选择信号以在所述多个通道电路中选择至少一个代表性通道电路,并且对所述代表性通道电路进行测试。
2.根据权利要求1所述的集成电路,其中,所述代表性通道电路接收包括测试电流的模拟信号,转换通过所述测试的测试电流,并输出包括测试数据的数字信号。
3.根据权利要求2所述的集成电路,其中,所述代表性通道电路对所述测试电流进行积分以生成积分电压,并且转换所述积分电压以生成所述测试数据。
4.根据权利要求1所述的集成电路,其中,所述像素感测电路包括用于控制所述测试电流的供给的开关电路,以及
所述开关电路将所述测试电流传输到所述代表性通道电路,并且阻止所述测试电流到其余的通道电路。
5.根据权利要求4所述的集成电路,其中,所述开关电路包括分别连接到所述多个通道电路的多个开关,以及
所述多个开关通过开放和闭合来控制所述测试电流向相应的通道电路的供给。
6.根据权利要求5所述的集成电路,其中,所述通道选择电路将所述通道选择信号传输到所述开关电路,以开放或闭合所述多个开关中的各个开关。
7.根据权利要求1所述的集成电路,其中,所述多个通道电路中的各个通道电路包括放大器,以及
所述通道选择电路控制放大器的驱动以选择代表性通道电路。
8.根据权利要求7所述的集成电路,其中,所述通道选择电路导通通道电路的放大器以选择该通道电路作为代表性通道电路,以及关断通道电路的放大器以不选择该通道电路。
9.根据权利要求8所述的集成电路,其中,所述通道电路接收所述通道选择信号,并且根据所述通道选择信号来控制所述放大器的驱动。
10.根据权利要求1所述的集成电路,其中,所述代表性通道电路是布置在所述像素感测电路中的多个通道电路中的位于边缘处的通道电路。
11.根据权利要求1所述的集成电路,其中,所述测试电流由电源管理集成电路即PMIC生成,并且被供给至所述像素感测电路。
12.一种像素感测电路,用于感测布置在面板上的像素的特性,所述像素感测电路包括:
第一组,其包括具有第一特性的多个第一通道电路;以及
第二组,其包括具有不同于所述第一特性的第二特性的多个第二通道电路,
其中,所述第一组和所述第二组各自包括被选择用于感测像素特性的测试的至少一个代表性通道电路。
13.根据权利要求12所述的像素感测电路,其中,所述多个第一通道电路在第一区域中彼此相邻地配置,
所述多个第二通道电路在与所述第一区域间隔开的第二区域中彼此相邻地配置,
所述第一组中所包括的第一代表性通道电路位于所述第一区域的边缘处,以及
所述第二组中所包括的第二代表性通道电路位于所述第二区域的边缘处。
14.根据权利要求12所述的像素感测电路,其中,所述代表性通道电路接收测试电流并且利用所述测试电流对所述代表性通道电路进行测试,以及
其余的通道电路不接收所述测试电流并且不被测试。
15.根据权利要求12所述的像素感测电路,其中,所述多个第一通道电路和所述多个第二通道电路中的各个通道电路中包括放大器,以及
所述代表性通道电路在该代表性通道电路的放大器导通时被测试,并且其余的通道电路在该其余的通道电路的放大器关断时不被测试。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于LX半导体科技有限公司,未经LX半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202080062819.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。