[发明专利]像素感测电路和集成电路

说明书

本公开涉及像素感测电路，其中仅在像素感测电路的通道中所选择的特定通道上进行测试，并且可以减少像素感测电路的总测试时间和用于测试的数据吞吐量。

技术领域

本公开涉及用于测试像素感测电路的技术。

背景技术

显示装置可以包括用于驱动布置在面板上的像素的源极驱动器。

源极驱动器根据图像数据来确定数据电压，并通过向像素供给数据电压来控制各个像素的亮度。

另一方面，即使将相同的数据电压供给至像素，各个像素的亮度也可以根据像素的特性而不同。例如，各个像素包括驱动晶体管，并且当驱动晶体管的阈值电压改变时，即使将相同的数据电压供给至像素，该像素的亮度也可能改变。如果源极驱动器不考虑像素的特性变化，则被驱动的像素具有不期望的亮度和劣化的图像质量。屏幕上的污迹是图像质量差的示例。

为了改善差的图像质量，显示装置可以包括用于感测像素的特性的像素感测电路。

像素感测电路可以通过连接到各个像素的感测线来接收每个像素的模拟信号。然后，像素感测电路将模拟信号转换成像素感测数据，并将其传输到时序控制器，并且时序控制器通过像素感测数据来掌握每个像素的特性。另外，时序控制器通过反映各个像素的特性来补偿图像数据，从而改善由于像素偏差而导致的图像质量劣化的问题。

另一方面，可以预先测试像素感测电路以用于像素感测。该测试可以涉及像素感测电路是否能够正确地进行像素感测。例如，如果像素感测电路接收模拟信号(例如，电流信号)，然后输出误差范围内的像素感测数据(例如，电压数据)，则可以确定为像素感测电路正常操作。如果像素感测电路输出误差范围之外的像素感测数据，则可以确定为像素感测电路有缺陷。有缺陷的像素感测电路输出的像素感测数据需要被进一步校正。

像素感测电路的测试可以通过逐个顺次检查像素感测电路内部的通道来进行。像素感测电路包括与存在于一行中的多个像素相对应的多个通道，并且这些通道可以在像素感测处理中感测相应像素。在测试处理中，外部参考电流(模拟信号)被顺次施加到各个通道，并且各个通道也可以顺次感测外部参考电流。然而，像素感测电路的顺序测试可能消耗相当多的时间。由于在顺序测试中测试了所有通道，因此像素感测电路的测试时间可以对应于每个通道的测试时间与通道数量的乘积。

在需要仅针对像素感测电路的一些通道或特定通道的测试的情况下，上述顺序测试可能效率更低。这是因为，为了测试一些通道，也会测试不需要被测试的通道，这增加了测试所需的时间。

发明内容

发明要解决的问题

考虑到以上所述，本公开提供了一种用于在像素感测电路的通道中选择几个特定通道并且仅测试所选择的通道的技术。

此外，本公开提供了一种用于通过控制测试电流的供给或放大器的驱动来选择测试像素感测电路所需的通道的技术。

用于解决问题的方案

根据一个实施例，提供了一种集成电路，其包括：像素感测电路，用于感测布置在面板上的像素的特性；以及通道选择电路，用于生成通道选择信号，其中，所述像素感测电路包括要被测试以用于感测的多个通道电路，接收所述通道选择信号以在所述多个通道电路中选择至少一个代表性通道电路，并且对所述代表性通道电路进行测试。

在所述集成电路中，所述代表性通道电路可以接收包括测试电流的模拟信号，转换通过所述测试的测试电流，并输出包括测试数据的数字信号。

在所述集成电路中，所述代表性通道电路可以对所述测试电流进行积分以生成积分电压，并且转换所述积分电压以生成所述测试数据。

在所述集成电路中，所述像素感测电路可以包括用于控制所述测试电流的供给的开关电路，以及所述开关电路可以将所述测试电流传输到所述代表性通道电路，并且阻止所述测试电流到其余的通道电路。