[发明专利]电路特性测定系统及电路特性测定方法在审

专利信息
申请号: 202080067185.1 申请日: 2020-09-28
公开(公告)号: CN114502967A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 名仓彻;鸙野俊寿;山下宗寛;吉泽正充 申请(专利权)人: 学校法人福冈大学;日本电产理德股份有限公司;野田网印株式会社
主分类号: G01R27/28 分类号: G01R27/28
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨芳;黄健
地址: 日本福冈县福冈市城南区七隈*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 电路 特性 测定 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种电路特性测定系统,包括:

信号电压发生电路,对测定对象的被测定电路依序施加多个周期电压信号,所述多个周期电压信号分别具有规定的基准频率以及所述基准频率的整数倍的频率;

测定电路,依序测定因对所述被测定电路依序施加所述周期电压信号而在所述被测定电路中产生的信号的功率;以及

传递函数算出部,使用预先设定的数式、根据由所述测定电路测定出的功率来算出所述被测定电路的传递函数,

所述周期电压信号包含高阶频率分量。

2.根据权利要求1所述的电路特性测定系统,其中,

所述周期电压信号为矩形波,在将所述基准频率设为f0时,所述多个周期电压信号的频率为所述基准频率f0的奇数倍。

3.根据权利要求2所述的电路特性测定系统,其中,

在将所述周期电压信号的频率设为f0、3f0、5f0、···并将所述周期电压信号的功率设为A的情况下,所述传递函数算出部通过进行由所述数式即下述式(1)所示的运算来算出所述被测定电路的传递函数H2(f0)、H2(3f0)、H2(5f0)、···,

[数式1]

4.根据权利要求1所述的电路特性测定系统,其中,

将作为所述基准频率的频率设为mf0(m=1),将所述整数倍的频率设为mf0(m为2以上的整数),

进而包括预先存储基波及其高次谐波的功率A(mn)m(n为高次谐波的次数:n=1、2、3、···)的存储部,

所述传递函数算出部根据所述存储部中存储的功率A(mn)m来进行所述数式即下述式(2)所示的运算,由此算出所述被测定电路的传递函数H2(mf0)(m=1、2、3、···),

所述存储部中存储的功率A(mn)m(n=1、2、3、···)是所述频率mf0(m=1、2、3、···)的所述周期电压信号从所述信号电压发生电路在不经由所述被测定电路的情况下施加到所述测定电路时,由所述测定电路测定的所述周期电压信号各者中包含的功率,

[数式2]

5.根据权利要求1所述的电路特性测定系统,其中,

所述周期电压信号能够设为如下波形,即,在一周期的信号波形中的时间轴上的一点配置与所述时间轴垂直的对称轴,由此,相对于所述对称轴而对称,

将作为所述基准频率的频率设为mf0(m=1),将所述整数倍的频率设为mf0(m为3以上的奇数),

进而包括预先存储基波及其高次谐波的功率A(mn)m(n为高次谐波的次数:n=1、3、5、···)的存储部,

所述传递函数算出部根据所述存储部中存储的功率A(mn)m来进行所述数式即下述式(3)所示的运算,由此算出所述被测定电路的传递函数H2(mf0)(m=1、3、5、···),

所述存储部中存储的功率A(mn)m(n=1、3、5、···)是所述频率mf0(m=1、3、5、···)的所述周期电压信号从所述信号电压发生电路在不经由所述被测定电路的情况下施加到所述测定电路时,由所述测定电路测定的所述周期电压信号各者中包含的功率,tohkatsu@groutohkatsu@grou

[数式3]

6.根据权利要求1至5中任一项所述的电路特性测定系统,其中,

所述测定电路分别测定所述周期电压信号在所述被测定电路中反射而形成的反射波的功率。

7.一种电路特性测定方法,包括:

信号电压施加工序,对测定对象的被测定电路依序施加多个周期电压信号,所述多个周期电压信号分别具有规定的基准频率以及所述基准频率的整数倍的频率;

测定工序,分别测定因对所述被测定电路施加所述周期电压信号而在所述被测定电路中产生的信号的功率;以及

传递函数算出工序,使用预先设定的数式、根据由所述测定电路测定出的多个功率来算出所述被测定电路的传递函数,

所述周期电压信号包含高阶频率分量。

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