[发明专利]电路特性测定系统及电路特性测定方法

说明书

本发明的电路特性测定系统1包括：信号电压发生电路2，对测定对象的被测定电路51依序施加多个周期电压信号，所述多个周期电压信号分别具有规定的基准频率以及基准频率的整数倍的频率；测定电路3，依序测定因对被测定电路51依序施加所述周期电压信号而在被测定电路51中产生的信号的功率；以及传递函数算出部42，使用预先设定的数式、根据由测定电路3测定出的多个功率来算出被测定电路51的传递函数H、H2，所述周期电压信号包含高阶频率分量。

技术领域

本发明涉及一种测定电路的特性的电路特性测定系统及电路特性测定方法。

背景技术

一直以来都有测定片上电源节点的电源阻抗的方法(例如参照非专利文献1)。根据非专利文献1，使用电流源而通过灌吸(sink)从电流源向电源节点流通矩形波电流，测定电源节点上的实效功率，根据所述实效功率，可以测定电源节点的电源阻抗。

现有技术文献

非专利文献

非专利文献1：一种片上电源阻抗分析技术，2015年美国电气电子工程师协会第24届亚洲测试研讨会，Masahiro Ishida、Toru Nakura、Akira Matsukawa、Rimon Ikeno和Kunihiro Asada(A Technique for Analyzing On-chip Power Supply Impedance,2015IEEE 24th Asian Test Symposium,Masahiro Ishida,Toru Nakura,AkiraMatsukawa,Rimon Ikeno,and Kunihiro Asada)

发明内容

另外，在非专利文献1中，需要能够流通矩形波电流的电流源电路。然而，进行流通矩形波电流的电流控制的电流源电路的实现并不容易，即便实现，价格也高昂。

本发明的目的在于提供一种无须使用进行流通矩形波电流的电流控制的电流源电路即可测定被测定电路的特性的电路特性测定系统及电路特性测定方法。

本发明的一例的电路特性测定系统包括：信号电压发生电路，对测定对象的被测定电路依序施加多个周期电压信号，所述多个周期电压信号分别具有规定的基准频率以及所述基准频率的整数倍的频率；测定电路，依序测定因对所述被测定电路依序施加所述周期电压信号而在所述被测定电路中产生的信号的功率；以及传递函数算出部，使用预先设定的数式、根据由所述测定电路测定出的功率来算出所述被测定电路的传递函数，所述周期电压信号包含高阶频率分量。

另外，本发明的一例的电路特性测定方法包括：信号电压施加工序，对测定对象的被测定电路依序施加多个周期电压信号，所述多个周期电压信号分别具有规定的基准频率以及所述基准频率的整数倍的频率；测定工序，分别测定因对所述被测定电路施加所述周期电压信号而在所述被测定电路中产生的信号的功率；以及传递函数算出工序，使用预先设定的数式、根据由所述测定电路测定出的多个功率来算出所述被测定电路的传递函数，所述周期电压信号包含高阶频率分量。

附图说明

图1为表示使用本发明的一实施方式的电路特性测定方法的电路特性测定系统的结构的一例的框图。

图2为表示电路特性测定系统1的动作的一例的流程图。

图3为用于说明传递函数的测定有关的电路部分的特性的测定方法的说明图。

图4为表示从信号电压发生电路2a输出的周期电压信号的一例的波形图。

图5为表示传递函数的测定有关的电路部分的特性的测定方法的一例的流程图。

图6为表示使用不同于矩形波的周期电压信号的电路特性测定系统1a的动作的一例的流程图。

图7为表示对称的波形的周期电压信号的一例的波形图。