[发明专利]长条光学层叠体的检查方法以及检查系统

权利要求书

1.一种长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，包括：第一工序，其检查第一长条光学膜而取得作为所述第一长条光学膜的缺陷信息的第一缺陷信息；

第二工序，其在所述第一长条光学膜的宽度方向端部，每隔所述第一长条光学膜的长度方向的规定间隔打印第一识别信息；

第三工序，其将所述第一长条光学膜的所述第一缺陷信息与所述第一识别信息关联地存储；

第四工序，其检查第二长条光学膜，或者检查层叠有所述第一长条光学膜和所述第二长条光学膜的长条光学层叠体，取得作为所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的缺陷信息的第二缺陷信息；

第五工序，其在所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的宽度方向端部，每隔所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的长度方向的规定间隔打印第二识别信息；

第六工序，其将所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的所述第二缺陷信息与所述第二识别信息关联地存储；

在所述第二工序中打印的所述第一识别信息以及在所述第五工序中打印的所述第二识别信息中的任一方以喷墨方式打印，另一方以激光刻印打印，或者，任一方以使用透明墨的喷墨方式打印，另一方以使用有色墨的喷墨方式打印。

2.如权利要求1所述的长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，在所述第二工序中，以使用透明墨的喷墨方式打印所述第一识别信息，

在所述第五工序中，以激光刻印打印所述第二识别信息。

3.如权利要求1或2所述的长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，还包括第七工序，其将所述第一长条光学膜的所述第一缺陷信息与所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的所述第二识别信息关联地存储。

4.如权利要求1至3中任一项所述的长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，还包括第八工序，其基于所述第一长条光学膜的所述第一识别信息以及所述第一缺陷信息、和所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的所述第二识别信息以及所述第二缺陷信息，对所述长条光学层叠体的缺陷的位置实施标记。

5.如权利要求1至4中任一项所述的长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，所述第一长条光学膜为保护膜，

所述第二长条光学膜为偏振片，

所述长条光学层叠体为偏光膜。

6.如权利要求1至4中任一项所述的长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，所述第一长条光学膜是相位差膜或供液晶材料涂布的基材，

所述第二长条光学膜为偏光膜。

7.如权利要求1至4中任一项所述的长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，所述第一长条光学膜为反射型偏振片，

所述第二长条光学膜为偏光膜。

8.如权利要求5所述的长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，在所述第一长条光学膜的宽度方向端部形成滚花加工部，

在所述第二工序中，在所述第一长条光学膜的相当于所述滚花加工部的部位以喷墨方式打印所述第一识别信息。

9.如权利要求5所述的长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，在所述第一长条光学膜的宽度方向端部形成滚花加工部，

在所述第五工序中，在位于比所述第一长条光学膜的滚花加工部更靠宽度方向内侧的所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的部位打印所述第二识别信息。

10.一种长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，具备：第一检查装置，其检查第一长条光学膜而取得作为所述第一长条光学膜的缺陷信息的第一缺陷信息；

第二打印装置，其在所述第一长条光学膜的宽度方向端部，每隔所述第一长条光学膜的长度方向的规定间隔打印第一识别信息；

第一运算存储装置，其将所述第一长条光学膜的所述第一缺陷信息与所述第一识别信息关联地存储；

第二检查装置，其检查第二长条光学膜，或者检查层叠有所述第一长条光学膜和所述第二长条光学膜的长条光学层叠体，取得作为所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的缺陷信息的第二缺陷信息；

第二打印装置，其在所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的宽度方向端部，每隔所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的长度方向的规定间隔打印第二识别信息；

第二运算存储装置，其将所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的所述第二缺陷信息与所述第二识别信息关联地存储；

所述第一打印装置打印的所述第一识别信息以及在所述第二打印装置打印的所述第二识别信息中的任一方以喷墨方式打印，另一方以激光刻印打印，或者，任一方以使用透明墨的喷墨方式打印，另一方以使用有色墨的喷墨方式打印。