[发明专利]长条光学层叠体的检查方法以及检查系统

说明书

能够以长条光学层叠体的状态读取打印在第一长条光学膜的第一识别信息和打印在长条光学层叠体的第二识别信息双方。包括：第一工序，其检查第一长条光学膜(F1)而取得第一缺陷信息；第二工序，其在第一长条光学膜打印第一识别信息(M)；第三工序，其将第一缺陷信息与第一识别信息关联地存储；第四工序，其检查层叠有第一长条光学膜的长条光学层叠体(F2)而取得第二缺陷信息；第五工序，其在长条光学层叠体打印第二识别信息；第六工序，其将第二缺陷信息与第二识别信息关联地存储；第一识别信息以及第二识别信息中的任一方以喷墨方式打印，另一方以激光刻印打印，或者，任一方以使用透明墨的喷墨方式打印，另一方以使用有色墨的喷墨方式打印。

技术领域

本发明涉及一种层叠有第一长条光学膜(例如，保护膜)和第二长条光学膜(例如，偏振片)的长条光学层叠体(例如，偏光膜)的检查方法以及检查系统。本发明尤其涉及一种长条光学层叠体的检查方法以及检查系统，所述长条光学层叠体通过能够以长条光学层叠体的状态读取打印在第一长条光学膜的第一识别信息和打印在第二长条光学膜或长条光学层叠体的第二识别信息双方，能够适当地关联缺陷信息和识别信息。

背景技术

作为长条光学层叠体，例如已知用于液晶显示装置的偏光膜。从长条的偏光膜到冲裁出与用途对应的尺寸的偏光膜的工序例如如下所述。

首先，检查以卷对卷方式输送的长条的偏光膜，检测在偏光膜存在的缺陷。在检测出缺陷的情况下，对缺陷的位置实施标记，卷绕偏光膜。

在作为最终制品的偏光膜(冲裁后的偏光膜)中，根据用户的规格存在各种尺寸，但作为长条的偏光膜(偏光膜原卷)可以通用的情况较多，因此预先大量制造偏光膜原卷，日后根据需要，从偏光膜原卷冲裁需要的尺寸的偏光膜制品。在冲裁偏光膜制品时，必须避开存在缺陷的位置，或者将在冲裁后对存在缺陷的位置实施了标记的偏光膜制品作为不合格品除去。

因此，在检查长条的偏光膜时，需要检测缺陷，将该缺陷的位置等作为缺陷信息事先存储。

为了适当地管理缺陷信息，提高偏光膜制品的成品率，在专利文献1中，提出了在偏光膜的宽度方向端部打印识别信息(至少确定偏光膜的长度方向的位置的信息)，使缺陷信息与识别信息关联的偏光膜的检查方法。

根据专利文献1所记载的检查方法，能够适当地管理在偏光膜的状态下产生的缺陷的缺陷信息。

但是，在偏光膜中，不仅存在在层叠有保护膜和偏振片的偏光膜的状态下产生的缺陷，还存在在保护膜单体(与偏振片层叠之前的保护膜)的状态下产生的缺陷。而且，即使在偏光膜的状态下检查，有时也难以检测出在保护膜单体的状态下产生的缺陷。

因此，有时即使保护膜单体也进行检查，但以往，通过该检查检测出的缺陷的缺陷信息未被适当地管理。具体而言，不进行在保护膜单体打印识别信息并与缺陷信息关联。

另外，在卷绕保护膜时，为了防止卷绕偏移、卷绕松弛、粘连、暴筋等产生，有时对保护膜的宽度方向端部实施通过激光刻印形成微小的凹凸的滚花加工(例如，参照专利文献2)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特许第5925609号公报

专利文献2：日本特许第5578759号公报

发明内容

发明要解决的课题

本发明是为了解决上述那样的现有技术的问题点而完成的，其课题在于，提供一种长条光学层叠体的检查方法以及检查系统，所述长条光学层叠体通过能够以长条光学层叠体的状态读取打印在第一长条光学膜(例如，保护膜)的第一识别信息和打印在第二长条光学膜(例如，偏振片)或长条光学层叠体(例如，偏光膜)的第二识别信息双方，能够适当地关联缺陷信息和识别信息。

用于解决课题的方案