[发明专利]图像处理系统和计算机程序

说明书

图像处理系统具有：处理器；存储器；以及存储装置，其保存有根据拍摄合格品而得的至少一张合格品图像生成的至少一张合格品微分图像的数据。处理器按照程序而执行如下处理：获取拍摄被检查物而得的检查用图像的数据；生成获取到的检查用图像的微分图像；按照合格品微分图像和所生成的微分图像的相同的位置的每个像素，计算所生成的微分图像的像素值和合格品微分图像的像素值之差或之比；以及在差或比大于预先确定的情况下，检测赋予了差或比的检查用图像的像素作为包含被检查物的缺陷的像的像素的候选。

技术领域

本公开涉及图像处理系统和计算机程序。

背景技术

以往，利用对被检查物进行拍摄而获取的图像，进行对被检查物是否存在缺陷、即被检查物是否为合格品进行判定的外观检查。

例如，在日本特开2000-132684号公报中公开了能够与条纹图案区别地检测在具有条纹图案的被检查物的表面产生的缺陷的外观检查方法。在日本特开2000-132684号公报中，通过图像的微分处理检测条纹的边缘，着眼于检测出的边缘的紊乱，判定有无缺陷。

在日本特开2000-329538号公报中公开了对图像实施微分处理，进而使用二值化阈值进行二值化来判定缺陷的方法。并且，在日本特开2000-329538号公报中，即使存在图像的不均匀性，通过按照每个规定的区域计算二值化阈值，也能够均匀地提高在整个摄像图像中提取缺陷的性能。

在日本特开2005-265661号公报中公开了从多个合格品图像组中按照每个像素确定合格品范围，进行合格与否判定的方法。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2000-132684号公报

专利文献2：日本特开2000-329538号公报

专利文献3：日本特开2005-265661号公报

发明内容

发明要解决的课题

根据上述的任一技术，均无法检测出缺陷整体，而无法检测微分值低的像素或合格品范围内的像素。其结果为，有可能将缺陷判定为较小，或者分裂地判定为多个缺陷。

本公开的实施方式提供能够用于外观检查的新的图像处理系统和计算机程序。

用于解决课题的手段

在例示性的实施方式中，本公开的图像处理系统具有：处理器；存储器，其存储有控制所述处理器的动作的程序；以及存储装置，其保存有根据拍摄合格品而得的至少一张合格品图像而生成的至少一张合格品微分图像的数据，所述处理器按照所述程序而执行如下处理：获取拍摄所述被检查物而得的检查用图像的数据；生成获取到的所述检查用图像的微分图像；按照所述合格品微分图像和所生成的所述微分图像的相同的位置的每个像素，计算所生成的所述微分图像的像素值和所述合格品微分图像的像素值之差或之比；以及在所述差或所述比大于预先确定的情况下，检测赋予了所述差或所述比的所述检查用图像的像素作为包含所述被检查物的缺陷的像的像素的候选。

在例示性的实施方式中，本公开的计算机程序由图像处理系统的计算机来执行，其中，所述图像处理系统具有：作为所述计算机的处理器；存储器，其存储有控制所述处理器的动作的程序；以及存储装置，其保存有根据拍摄合格品而得的至少一张合格品图像而生成的至少一张合格品微分图像的数据，所述计算机程序使所述处理器执行如下处理：获取拍摄所述被检查物而得的检查用图像的数据；生成获取到的所述检查用图像的微分图像；按照所述合格品微分图像和所生成的所述微分图像的相同的位置的每个像素，计算所生成的所述微分图像的像素值和所述合格品微分图像的像素值之差或之比；以及在所述差或所述比大于预先确定的阈值的情况下，检测赋予了所述差或所述比的所述检查用图像的像素作为包含所述被检查物的缺陷的像的像素的候选。

发明效果