[发明专利]一种阻变存储器的故障测试方法

权利要求书

1.一种阻变存储器的故障测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤S1：扫描阻变存储器所有的存储单元，检测出所有的故障存储单元，标记一级故障类型为自身故障类型或耦合故障类型；

步骤S2：扫描一级故障类型为自身故障类型的故障存储单元，标记为二级自身故障类型，所述二级自身故障类型包括固定故障类型SA0、SA1，状态转换故障类型TF0、TF1，读值故障类型R1D，具体的：将所有的一级故障类型为自身故障类型的故障存储单元写入BIT1，选中所述的存储单元中的第1个存储单元，以大于等于2倍的写脉冲周期，往选中的存储单元写入BIT0，读取选中的存储单元的阻值，若选中的存储单元的阻值为BIT1，则标记故障类型为固定故障类型SA1，否则标记故障类型为状态转换故障类型TF0；往复操作，执行完所有的一级故障类型为自身故障类型的故障存储单元；接着将所有的一级故障类型为自身故障类型的故障存储单元写入BIT0，选中所述的存储单元的第1个存储单元，往选中的存储单元写入BIT1，重复读取2次选中的存储单元的阻值，若前2次读取的存储单元的阻值分别为BIT1、BIT0，则标记故障类型为读值故障类型R1D；当以大于等于2倍的写脉冲周期，往选中的存储单元写入BIT1时，读取选中的存储单元的阻值，若选中的存储单元的阻值为BIT0，则标记故障类型为固定故障类型SA0，否则标记故障类型为状态转换故障类型TF1；往复操作，执行完所有的一级故障类型为自身故障类型的故障存储单元；

步骤S3：扫描一级故障类型为耦合故障类型的故障存储单元，标记为二级耦合故障类型，所述二级耦合故障类型包括第一状态耦合故障SCF0、第二状态耦合故障SCF1、第一跳变耦合故障JCF0、第二跳变耦合故障JCF1，具体的：将所有的存储单元写入BIT1，选中所有的一级故障类型为自身故障类型的故障存储单元中的第1个存储单元后写入BIT0，选中的存储单元所在行的其余存储单元写入BIT1，读取并判断选中的存储单元的阻值，若阻值为BIT1，则标记故障类型为第二状态耦合故障SCF1，否则所述选中存储单元写入BIT1，所述的其余存储单元写入BIT1，再读取并判断选中的存储单元的阻值，若阻值为BIT0，则标记故障类型为第一状态耦合故障SCF0，否则选中存储单元写入BIT0，所述的其余存储单元写入BIT0，再读取并判断选中的存储单元的阻值，若阻值为BIT1，则标记故障类型为第二跳变耦合故障JCF1，否则选中存储单元写入BIT0，所述其余存储单元写入BIT1，再读取并判断选中的存储单元的阻值，若阻值为BIT1，则标记故障类型为第二跳变耦合故障JCF1；往复操作，执行完所有的存储单元；

接着将所有的存储单元写入BIT0，选中所有的一级故障类型为自身故障类型的故障存储单元中的第1个存储单元后写入BIT1，选中的存储单元所在行的其余存储单元写入BIT0，读取并判断选中的存储单元的阻值，若阻值为BIT0，则标记故障类型为第一状态耦合故障SCF0，否则选中存储单元写入BIT0，所述其余存储单元写入BIT0，再读取并判断选中的存储单元的阻值，若阻值为BIT1，则标记故障类型为第二状态耦合故障SCF1，否则选中存储单元写入BIT1，所述的其余存储单元写入BIT1，再读取并判断选中的存储单元的阻值，若阻值为BIT0，则标记故障类型为第一跳变耦合故障JCF0，否则选中存储单元写入BIT1，所述的其余存储单元写入BIT0，再读取并判断选中的存储单元的阻值，若阻值为BIT0，则标记故障类型为第一跳变耦合故障JCF0；往复操作，执行完所有的存储单元；

步骤S4：输出所有的存储单元故障类型一览表，即输出标记阻变存储器中每个故障存储单元的故障类型。