[发明专利]一种用于电镜观察的微米级球形颗粒截面的制备方法有效
申请号: | 202110023510.0 | 申请日: | 2021-01-08 |
公开(公告)号: | CN112858362B | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 邓超;文婷婷;洪睿;杨帅;周仕远;刘施峰 | 申请(专利权)人: | 重庆大学 |
主分类号: | G01N23/2251 | 分类号: | G01N23/2251;G01N23/2202;G01N1/32 |
代理公司: | 重庆双马智翔专利代理事务所(普通合伙) 50241 | 代理人: | 顾晓玲 |
地址: | 400044 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 观察 微米 球形 颗粒 截面 制备 方法 | ||
1.一种用于电镜观察的微米级球形颗粒截面的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)将导电胶带粘贴于导电金属基体上;
(2)取微米级球形颗粒粉末平铺粘在导电胶带上,并吹走多余粉末;所述微米级球形颗粒为LiNiCoMnO2电池正极材料或纯钛微球材料,微米级球形颗粒粉末直径为5-20μm;
(3)将粘有粉末的导电金属基体置于氩离子束抛光机内进行抛光,采用平面抛光模式,抛光角度为0~2°,抛光电压和时间为7~8kV 5~15min + 4kV 10min + 1kV 10 min,即可获得满足扫描电镜观察的颗粒截面。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述导电胶带为双面导电碳胶带或者铜胶带。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述导电金属基体为铜或铝。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述抛光电压和时间为7kV 5min +4kV10min + 1kV 10min。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述导电金属基体大小为8mm × 8 mm。
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