[发明专利]一种低成本测试模拟数字转换器线性度的方法有效

专利信息
申请号: 202110026569.5 申请日: 2021-01-08
公开(公告)号: CN112865792B 公开(公告)日: 2021-11-19
发明(设计)人: 魏津;张经祥;胡雪原 申请(专利权)人: 胜达克半导体科技(上海)有限公司
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10
代理公司: 上海专益专利代理事务所(特殊普通合伙) 31381 代理人: 方燕娜;王雯婷
地址: 201799 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 低成本 测试 模拟 数字 转换器 线性 方法
【权利要求书】:

1.一种低成本测试模拟数字转换器线性度的方法,其特征在于包括如下步骤:

S1,设置高精度参数测量单元(PMU)工作参数;

S2,设置数字测试通道(PE)为输入捕获模式;

S3,执行数字测试通道(PE)样式程序,被测模拟数字转换器(ADC)转换触发信号,并被数字测试通道(PE)捕获;

S4,数字测试通道(PE)对抓取的数据进行成功-出错判断,如果出错,记录出错的数据报告;

S5,重复步骤S3-S4,直至高精度参数测量单元(PMU)电压升高至结束值;

S6,查询出错报告,判断行-不行,获得所有出错的数据报告进行分析;

所述的步骤S3具体包括如下步骤:

S31,执行数字测试通道(PE)样式程序;

S32,高精度参数测量单元(PMU)依次根据被测模拟数字转换器(ADC)的每个数值编码对应的中心电压理想值输出电压;

S33,高精度参数测量单元(PMU)输出电压到位后,被测模拟数字转换器(ADC)做一次AD转换;

S34,等待固定时间t后,数字测试通道(PE)做一次数据抓取。

2.根据权利要求1所述的一种低成本测试模拟数字转换器线性度的方法,其特征在于:所述的步骤S1中,设置高精度参数测量单元(PMU)输出台阶电压的初始值为被测模拟数字转换器(ADC)的数码0对应的电压,单步值为被测模拟数字转换器(ADC)的最小码宽电压,结束值为被测模拟数字转换器(ADC)最大数码值对应的电压。

3.根据权利要求1所述的一种低成本测试模拟数字转换器线性度的方法,其特征在于:所述的步骤S34中固定时间t=1/f,f为被测模拟数字转换器(ADC)的采样率。

4.根据权利要求1所述的一种低成本测试模拟数字转换器线性度的方法,其特征在于:所述的步骤S4中将数字测试通道(PE)抓取的数据与样式程序里的预期值进行比较,两个数值完全相等为成功,有1比特差异即为出错。

5.根据权利要求1所述的一种低成本测试模拟数字转换器线性度的方法,其特征在于:所述的步骤S6中行-不行的判断标准是出错报告是否全空,出错报告全空即为行,出错报告不为空即为不行。

6.根据权利要求1所述的一种低成本测试模拟数字转换器线性度的方法,其特征在于:所述的数字测试通道(PE)、高精度参数测量单元(PMU)与被测模拟数字转换器(ADC)之间设有测试电路,所述的测试电路包括数字测试通道(PE)、参数设置数模转换器(DAC)、强制放大器(FA)、误差比较器(EC)、电压放大器(VA)、被测模拟数字转换器(ADC),数字测试通道(PE)的样式触发信号端口(T1)连接参数设置数模转换器(DAC)的一端,参数设置数模转换器(DAC)的另一端分别连接误差比较器(EC)的一号端口,强制放大器(FA)的一号端口,误差比较器(EC)的二号端口分别连接强制放大器(FA)的二号端口,高精度参数测量单元(PMU)、电压放大器(VA)的三号端口,误差比较器(EC)的三号端口连接数字测试通道(PE)的参数到位信号端口(T2),强制放大器(FA)的三号端口分别连接被测模拟数字转换器(ADC)的一号端口及电压跟随器一(VF1)的一端,电压跟随器一(VF1)的另一端连接电压放大器(VA)的一号端口,被测模拟数字转换器(ADC)的二号端口分别连接电压跟随器二(VF2)的一端、系统公共地二(GND2)的一端,电压跟随器二(VF2)的另一端连接电压放大器(VA)的二号端口,系统公共地二(GND2)的另一端连接系统公共地一(GND1)的一端,系统公共地(GND1)的另一端连接强制放大器(FA)的四号端口,被测模拟数字转换器(ADC)的三号端口连接数字测试通道(PE)的数字通道捕获端口(T3)。

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