[发明专利]一种低成本测试模拟数字转换器线性度的方法

说明书

本发明涉及模拟数字转换器技术领域，具体地说是一种低成本测试模拟数字转换器线性度的方法。其特征在于包括如下步骤：S1，设置高精度参数测量单元工作参数；S2，设置数字测试通道为输入捕获模式；S3，执行数字测试通道样式程序，被测模拟数字转换器转换触发信号，并被数字测试通道捕获；S4，数字测试通道对抓取的数据进行成功‑出错判断，如果出错，记录出错的数据报告；S5，重复步骤S3‑S4，直至高精度参数测量单元电压升高至结束值；S6，查询出错报告，判断行‑不行，获得所有出错的数据报告进行分析。同现有技术相比，缩减了测试时间，精度高，提高测试效率。

技术领域

本发明涉及模拟数字转换器技术领域，具体地说是一种低成本测试模拟数字转换器线性度的方法。

背景技术

目前很多数字芯片都集成了少量模数混合信号处理的功能，以模拟数字转换器ADC最为典型。为了判断ADC的好坏，通常需要测试ADC的线性度。

在自动测试机台上测试ADC的线性度的传统方法和技术要求是：1）利用任意波发生器（AWG）产生的电压斜坡信号，连接到ADC的模拟信号输入端。电压范围覆盖整改ADC工作的电压输入范围。需要高质量的电压斜坡信号，平滑度足够好。为了避免出现台阶纹波，要利用AWG的低通滤波功能来平滑斜坡波形，且斜坡不能太慢，以保证低通滤波器的平滑效果。2）利用数字通道的捕获功能去抓取ADC转换的数码输出结果。要做足够多次转换和抓取足够多的数据，以保证ADC每一个数值编码都有平均16点对应的电压输入，ADC全“0”码和全“1”码都有足够多的饱和电压输入；例如10bit的ADC有1024个数值编码，通常需要采样数据1024*16+2000点。并且需要高质量的时钟同步控制，AWG每次产生斜坡的相位要有精准偏移量，以保证所有数字编码的对应的电压都会被采样且概率均等。3）将采集的数据回读，后台软件做柱状图分布分析，计算积分非线性INL和微分非线性DNL的指标，判断好坏Pass/Fail。

通常需要测试机台加配混合信号测试模块，包含任意波发生器AWG。混合信号测试模块是昂贵的，而且占用测试机台的内部空间，相当于减少了机台的数字信号测试通道的数量。

传统测试方法需要大量数据采样，占用测试时间。而且采样数据要回读到电脑端，做软件分析，才能判断结果，这个回读过程也占用测试时间。并且传统测试方法没有简化的空间。对于低成本的ADC，通常只有在芯片设计验证阶段，才会启用精准测量INL/DNL的方法。在芯片量产阶段的测试的需求只要满足行-不行（Go-NoGo）的判断即可。具体就是验证INL/DNL有没有超过最小码宽度的情况。但是传统测试方法为了测试判断结果正确，就不能缩减采样数据量，因此不能缩减测试时间。而且行-不行（Go-NoGo）的判断还是要基于INL/DNL的计算，还是要把数据全部回读并做软件分析。

因此利用混合信号测试模块的传统测试方法对于低成本的ADC芯片测试是不经济的，负担不起的。

发明内容

本发明为克服现有技术的不足，提供一种低成本测试模拟数字转换器线性度的方法，利用数字测试通道上整合的高精度参数测量单元实现低成本测试模拟数字转换器线性度的需求。

为实现上述目的，设计一种低成本测试模拟数字转换器线性度的方法，其特征在于包括如下步骤：

S1，设置高精度参数测量单元工作参数；

S2，设置数字测试通道为输入捕获模式；

S3，执行数字测试通道样式程序，被测模拟数字转换器转换触发信号，并被数字测试通道捕获；

S4，数字测试通道对抓取的数据进行成功-出错判断，如果出错，记录出错的数据报告；

S5，重复步骤S3-S4，直至高精度参数测量单元电压升高至结束值；

S6，查询出错报告，判断行-不行，获得所有出错的数据报告进行分析；