[发明专利]半胱氨酸蛋白酶抑制剂B检测装置及其制备方法和应用

权利要求书

1.一种半胱氨酸蛋白酶抑制剂B检测装置的制备方法，其特征是，包括如下步骤：

(1)使用重离子轰击聚对苯二甲酸乙二酯膜，形成轰击轨道；

(2)用紫外灯辐照所述步骤(1)得到的重离子轰击后的聚对苯二甲酸乙二酯膜；

(3)将所述(2)得到的聚对苯二甲酸乙二酯膜进行非对称光纳米孔刻蚀，得到非对称纳米通道膜；

(4)在室温下，用N-(3-二甲氨基丙基)-N’-乙基碳二亚胺盐酸盐和N-羟基磺酰基琥珀酰亚胺钠盐的水溶液浸泡所述步骤(3)得到的膜，使膜上的羧基被激活；

(5)蒸馏水冲洗所述步骤(4)得到的膜，浸泡在半胱氨酸蛋白酶抑制剂B单克隆抗体的水溶液中，使抗体反应并最终将抗体固定在膜内表面，即为半胱氨酸蛋白酶抑制剂B的检测装置。

2.根据权利要求1所述的半胱氨酸蛋白酶抑制剂B检测装置的制备方法，其特征在于，所述步骤(3)中，刻蚀所用刻蚀液为氢氧化钠溶液，阻止液为甲酸和氯化钾。

3.根据权利要求2所述的半胱氨酸蛋白酶抑制剂B检测装置的制备方法，其特征在于，所述步骤(3)中，将膜夹持在刻蚀装置中，在膜的正极一侧加入所述刻蚀液，负极一侧加入所述阻止液，监测电流变化，然后将正极一侧的刻蚀液吸出并用阻止液清洗，最后加入新的阻止液，得到非对称纳米通道膜。

4.按照权利要求1所述的半胱氨酸蛋白酶抑制剂B检测装置的制备方法制得的半胱氨酸蛋白酶抑制剂B检测装置，其特征是，所述半胱氨酸蛋白酶抑制剂B检测装置为聚对苯二甲酸乙二酯膜，所述聚对苯二甲酸乙二酯膜设有非对称纳米孔，所述非对称纳米孔为不对称而连续的锥形。

5.根据权利要求4所述的半胱氨酸蛋白酶抑制剂B检测装置，其特征为，所述非对称纳米孔设有大口端和小口端，所述大口端的直径为400nm-650nm，所述小口端的直径为5nm-35nm。

6.如权利要求4所述的半胱氨酸蛋白酶抑制剂B检测装置在制备口腔鳞状细胞癌检测设备中的应用。

7.根据权利要求6所述的半胱氨酸蛋白酶抑制剂B检测装置在制备口腔鳞状细胞癌检测设备中的应用，其特征在于，包括如下步骤：

(A)使用重离子轰击聚对苯二甲酸乙二酯膜，形成轰击轨道；

(B)用紫外灯辐照所述步骤(A)得到的重离子轰击后的聚对苯二甲酸乙二酯膜；

(C)将所述(B)得到的聚对苯二甲酸乙二酯膜进行非对称光纳米孔刻蚀，得到非对称纳米通道膜；

(D)在室温下，用N-(3-二甲氨基丙基)-N’-乙基碳二亚胺盐酸盐和N-羟基磺酰基琥珀酰亚胺钠盐的水溶液浸泡所述步骤(C)得到的膜，使膜上的羧基被激活；

(E)用蒸馏水冲洗所述步骤(D)得到的膜，浸泡在半胱氨酸蛋白酶抑制剂B单克隆抗体的水溶液中，使抗体反应并最终将抗体固定在膜内表面，即为半胱氨酸蛋白酶抑制剂B的检测装置；

(F)使用不同标准浓度梯度的半胱氨酸蛋白酶抑制剂B溶液滴在纳米通道表面，后测试纳米通道两侧的电流水平；

(G)将唾液离心得到上清液，将所述上清液滴加在纳米孔道上，检测膜两侧电流。