[发明专利]芯片的自动验证方法和系统，及存储介质

权利要求书

1.一种芯片的自动验证方法，其特征在于，所述方法包括：

从预设测试用例库中读取所述待验证芯片对应的测试参数和测试场景，并根据所述测试参数和所述测试场景生成测试用例列表；其中，所述测试用例列表包括至少一条测试用例；

根据所述测试用例列表，生成第一文件列表和第二文件列表；其中，所述第一文件列表包括所述至少一条测试用例对应的至少一个第一文件；所述第二文件列表包括所述至少一条测试用例对应的至少一个第二文件；

基于第一预设测试模型和所述第一文件列表，获得所述至少一个第一文件对应的至少一个第一测试结果；同时，基于第二预设测试模型和所述第二文件列表，获得所述至少一个第二文件对应的至少一个第二测试结果；

根据所述至少一个第一测试结果和所述至少一个第二测试结果，确定所述待验证芯片对应的验证结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个第一文件为至少一个文本文件，所述至少一个第二文件为至少一个二进制文件。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一预设测试模型为软件算法验证模型，所述第二预设测试模型为硬件集成电路验证模型。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试用例列表，生成第一文件列表和第二文件列表，包括：

根据预设文本格式对所述至少一条测试用例分别进行编译处理，获得所述至少一个文本文件；

同时，根据预设二进制格式对所述至少一条测试用例分别进行编译处理，获得所述至少一个二级制文件。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于第一预设测试模型和所述第一文件列表，获得所述至少一个第一文件对应的至少一个第一测试结果，包括：

通过所述软件算法验证模型分别加载并运行所述至少一个第一文件，得到所述至少一个第一测试结果。

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于第二预设测试模型和所述第二文件列表，获得所述至少一个第二文件对应的至少一个第二测试结果，包括：

通过所述硬件集成电路验证模型分别加载并运行所述至少一个第二文件，得到所述至少一个第二测试结果。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述至少一个第一测试结果和所述至少一个第二测试结果，确定所述待验证芯片对应的验证结果，包括：

对所述至少一个第一测试结果和所述至少一个第二测试结果进行比对处理，获得所述至少一条测试用例对应的至少一个比对结果；其中，一条测试用例对应的一个比对结果为相同或不相同；

确定所述至少一个比对结果中、相同的比对结果的占比值；

根据所述占比值确定所述验证结果。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据所述占比值确定所述验证结果，包括：

若所述占比值大于或者等于预设占比阈值，则确定所述验证结果为芯片功能正确实现；

若所述占比值小于所述预设占比阈值，则确定所述验证结果为芯片功能未正确实现。