[发明专利]芯片的自动验证方法和系统，及存储介质

说明书

本申请实施例公开了一种芯片的自动验证方法和系统、及存储介质，所述方法包括：从预设测试用例库中读取待验证芯片对应的测试参数和测试场景，并根据测试参数和测试场景生成测试用例列表；根据测试用例列表，生成第一文件列表和第二文件列表；其中，第一文件列表包括至少一条测试用例对应的至少一个第一文件；第二文件列表包括至少一条测试用例对应的至少一个第二文件；基于第一预设测试模型和第一文件列表，获得至少一个第一文件对应的至少一个第一测试结果；同时，基于第二预设测试模型和第二文件列表，获得至少一个第二文件对应的至少一个第二测试结果；根据至少一个第一测试结果和至少一个第二测试结果，确定待验证芯片对应的验证结果。

技术领域

本发明涉及芯片验证技术领域，尤其涉及一种芯片的自动验证方法和系统，及存储介质。

背景技术

目前，为了保证芯片设计的正确性以及有效提升芯片设计质量，设计人员需要针对芯片功能设计大量的用例进行覆盖测试。主要包括：设计测试用例、运行测试程序以及测试结果比对等过程。

然而，随着集成电路的飞速发展以及芯片规模的增大，芯片设计中的验证工作也变得更加艰巨，已成为流程中开销最大的工作，占整个设计周期的比例越来越大。传统基于人工手动执行芯片功能验证的方式，由于验证速度慢、时间耗费大且验证出错概率高，已无法满足当前大规模的芯片验证需求。因此，如何准确高效进行芯片功能验证，成为一个亟待解决的技术问题。

发明内容

本申请实施例提供了一种芯片的自动验证方法和系统，及存储介质，芯片的验证速度高，准确性好，极大的提高了芯片验证效率，进一步实现了芯片的高效验证。

本申请实施例的技术方案是这样实现的：

第一方面，本申请实施例提供了一种芯片的自动验证方法，所述方法包括：

从预设测试用例库中读取所述待验证芯片对应的测试参数和测试场景，并根据所述测试参数和所述测试场景生成测试用例列表；其中，所述测试用例列表包括至少一条测试用例；

根据所述测试用例列表，生成第一文件列表和第二文件列表；其中，所述第一文件列表包括所述至少一条测试用例对应的至少一个第一文件；所述第二文件列表包括所述至少一条测试用例对应的至少一个第二文件；

基于第一预设测试模型和所述第一文件列表，获得所述至少一个第一文件对应的至少一个第一测试结果；同时，基于第二预设测试模型和所述第二文件列表，获得所述至少一个第二文件对应的至少一个第二测试结果；

根据所述至少一个第一测试结果和所述至少一个第二测试结果，确定所述待验证芯片对应的验证结果。

第二方面，本申请实施例提供了一种自动验证系统，所述芯片验证系统包括读取单元，生成单元、获取单元以及确定单元，

所述读取单元，用于从预设测试用例库中读取所述待验证芯片对应的测试参数和测试场景；

所述生成单元，用于根据所述测试参数和所述测试场景生成测试用例列表；其中，所述测试用例列表包括至少一条测试用例；以及根据所述测试用例列表，生成第一文件列表和第二文件列表；其中，所述第一文件列表包括所述至少一条测试用例对应的至少一个第一文件；所述第二文件列表包括所述至少一条测试用例对应的至少一个第二文件；

所述获取单元，用于基于第一预设测试模型和所述第一文件列表，获得所述至少一个第一文件对应的至少一个第一测试结果；同时，基于第二预设测试模型和所述第二文件列表，获得所述至少一个第二文件对应的至少一个第二测试结果；

所述确定单元，用于根据所述至少一个第一测试结果和所述至少一个第二测试结果，确定所述待验证芯片对应的验证结果。

第三方面，本申请实施例提供了一种自动验证系统，所述自动验证系统包括处理器、存储有所述处理器可执行指令的存储器，当所述指令被所述处理器执行时，实现如上所述的芯片的自动验证方法。