[发明专利]NAND测试方法、装置、可读存储介质及电子设备

权利要求书

1.一种NAND测试方法，其特征在于，包括步骤：

对待测试的NAND中的数据块执行RDT测试，并筛选出其中的坏块；

对执行完RDT测试的数据块执行copyback操作，并筛选出其中的坏块；

对执行完copyback操作的数据块执行读操作，并筛选出其中的坏块。

2.根据权利要求1所述的一种NAND测试方法，其特征在于，所述对待测试的NAND中的数据块执行RDT测试，并筛选出其中的坏块包括：

遍历所述待测试的NAND中的数据块；

对于遍历到的第一目标数据块，对所述第一目标数据块进行擦写读，并判断所述擦写读是否成功，若否，则将所述第一目标数据块添加至坏块表。

3.根据权利要求1所述的一种NAND测试方法，其特征在于，所述对执行完RDT测试的数据块执行copyback操作，并筛选出其中的坏块包括：

从所述执行完RDT测试的数据块中确定第一数据块集合和第二数据块集合；

向所述第一数据块集合中写入测试数据；

遍历所述第二数据块集合中的第二数据块；

对于遍历到的第二目标数据块，将所述第一数据块集合中写入的所述测试数据通过copyback指令写到所述第二目标数据块；

判断所述第二目标数据块的数据写入是否成功，若否，将所述第二目标数据块添加到坏块表。

4.根据权利要求3所述的一种NAND测试方法，其特征在于，设置所述第一数据块集合中的数据块的工作模式为第一模式；

设置所述第二数据块集合中的数据块的工作模式为第二模式；

所述第一数据块集合中包含预设数量的数据块；

所述预设数量根据所述第一模式和第二模式确定。

5.根据权利要求4所述的一种NAND测试方法，其特征在于，所述从所述执行完RDT测试的数据块中确定第一数据块集合包括：

从执行完RDT测试的数据块中选择一数据块进行擦写读，判断所述擦写读是否成功，若是，则将所述数据块添加到所述第一数据块集合，若否，将所述数据块添加到坏块表；

从执行完RDT测试的数据块中选择另一数据块并执行上述擦写读和判断操作直至所述第一数据块集合中的数据块个数达到所述预设数量。

6.根据权利要求3所述的一种NAND测试方法，其特征在于，对于遍历到的第二目标数据块，对所述第二目标数据块进行擦除操作，判断所述擦除操作是否成功，若否，将所述第二目标数据块添加到坏块表，若是，执行将所述第一数据块集合中写入的所述测试数据通过copyback指令写到所述第二目标数据块步骤。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的一种NAND测试方法，其特征在于，所述对执行完copyback操作的数据块执行读操作，并筛选出其中的坏块包括：

遍历所述执行完copyback操作的数据块；

对于遍历到的第三目标数据块，对所述第三目标数据块执行读操作；

判断所述读操作是否成功，若否，将所述第三目标数据块添加到坏块表。

8.一种NAND测试装置，其特征在于，包括：

RDT测试模块，用于对待测试的NAND中的数据块执行RDT测试，并筛选出其中的坏块；

copyback操作模块，用于对执行完RDT测试的数据块执行copyback操作，并筛选出其中的坏块；

读操作模块，用于对执行完copyback操作的数据块执行读操作，并筛选出其中的坏块。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任意一项所述的一种NAND测试方法中的各个步骤。

10.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7任意一项所述的一种NAND测试方法中的各个步骤。