[发明专利]NAND测试方法、装置、可读存储介质及电子设备

说明书

本发明公开一种NAND测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，先对待测试的NAND中的数据块执行RDT测试，再对执行完RDT测试的数据块执行copyback操作，最后对执行完copyback操作的数据块执行读操作，并且在测试过程的每一阶段都进行坏块的筛选，通过在NAND的RDT测试中增加copyback命令操作的测试模式，使NAND中经过常规测试的数据块再以copyback命令操作的测试模式进行数据块的擦写读操作，从而能够将常规筛选无法识别的坏块和弱块识别出来，使得主控可以支持质量等级差的NAND，同时提升SSD的稳定性。

技术领域

本领域涉及存储器测试领域，特别涉及一种NAND测试方法、装置、可读存储介质及电子设备。

背景技术

运行数据测试(run data test，RDT)是用于下载固件(fireware)到固态硬盘(solid state drive，SSD)进行IO(输入/输出、input/out)之前，对SSD上的每个block做擦写读的一种测试，能够提前筛选出坏块(bad block)或弱块(weak block)。NAND(计算机闪存设备)中具有两种擦写命令，一种为常规的擦写命令：数据从NAND内部的NAND array(数组)到NAND内部的cache register(高速缓存存储器)，再从NAND内部的cache register到主控端静态随机存取存储器(StaticRandom-AccessMemory，SRAM)；另一种为copyback(内部拷贝)命令：将一个page内的数据拷贝到NAND内部的cache register里面，然后再从cache register写到NAND的另外一个page上，整个过程均是基于NAND内部的操作，期间不需要主控干预，两种命令的区别如图1所示。因此，IO过程中为了提高NAND的性能，通常采用copyback的方式将数据从block A-page M上的数据搬移到block B-page N上。

而在使用copyback过程中，难免会遇到坏块，所以需要在RDT阶段将这部分坏块识别出来，标记成坏块，避免后续IO过程使用。然而，在目前的RDT测试中，通常认为无论使用哪种擦写读方式，若出现坏块或弱块，都会出现测试异常的结果；但一些特殊的NAND如：downgrade(质量等级差)的NAND，在IO过程中容易出现深度读取重试错误(deep readretry fail，DDR fail)，部分也会出现copyback写入指令(copyback program fail)，而常规的擦写读中并不会出现问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种NAND测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，在对NAND进行RDT测试时能够提高故障覆盖率。

为了解决上述技术问题，本发明采用的一种技术方案为：

一种NAND测试方法，包括步骤：

对待测试的NAND中的数据块执行RDT测试，并筛选出其中的坏块；

对执行完RDT测试的数据块执行copyback操作，并筛选出其中的坏块；

对执行完copyback操作的数据块执行读操作，并筛选出其中的坏块。

为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：

一种NAND测试装置，包括：

RDT测试模块，用于对待测试的NAND中的数据块执行RDT测试，并筛选出其中的坏块；

copyback操作模块，用于对执行完RDT测试的数据块执行copyback操作，并筛选出其中的坏块；

读操作模块，用于对执行完copyback操作的数据块执行读操作，并筛选出其中的坏块。

为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：