[发明专利]电子器件断点检测方法、装置和电子设备

权利要求书

1.一种电子器件断点检测方法，其特征在于，包括：

对输入的初始信号进行功分，生成测试信号和参考信号，所述测试信号和所述参考信号具有相同的信号特征；

将所述测试信号输入待测电子器件的待测引脚，得到所述测试信号在所述待测引脚的反射信号；

根据所述反射信号以及所述参考信号，确定所述反射信号与所述测试信号之间的差频信号；

根据所述差频信号，确定所述待测电子器件的键合线断点位置。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述反射信号以及所述参考信号，确定所述反射信号与所述测试信号之间的差频信号，包括：

对所述反射信号和所述参考信号进行卷积计算，得到所述反射信号与所述参考信号之间的第一差频信号；

将所述第一差频信号确定为所述反射信号与所述测试信号之间的差频信号。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述差频信号，确定所述待测电子器件的键合线断点位置，包括：

根据所述差频信号，确定所述待测电子器件的键合线断点到所述待测引脚的距离；

根据所述待测电子器件的产品规格，确定所述待测电子器件的键合线断点与所述待测引脚的相对方向；

根据所述键合线断点到所述待测引脚的距离和所述相对方向，确定所述待测电子器件的键合线断点的位置。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述差频信号，确定所述待测电子器件的键合线断点到所述待测引脚的距离，包括：

根据公式，计算所述待测电子器件的键合线断点到所述待测引脚的距离；

其中，T为所述参考信号的调制周期；c为所述参考信号在所述待测电子器件中的传播速度；B为所述参考信号的带宽； f为所述差频信号的差频值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试信号和所述参考信号为调频连续波。

6.一种电子器件断点检测装置，其特征在于，包括：

生成模块，用于对输入的初始信号进行功分，生成测试信号和参考信号，所述测试信号和所述参考信号具有相同的信号特征；

输入模块，用于将所述测试信号输入待测电子器件的待测引脚，得到所述测试信号在所述待测引脚的反射信号；

执行模块，用于接收所述反射信号以及所述参考信号，并根据所述反射信号以及所述参考信号，确定所述反射信号与所述测试信号之间的差频信号；

确定模块，用于根据所述差频信号，确定所述待测电子器件的键合线断点位置。

7.一种电子器件断点检测设备，其特征在于，包括：

功分器，用于对输入的初始信号进行功分，生成测试信号和参考信号，所述测试信号和所述参考信号具有相同的信号特征；

所述功分器，还用于将所述测试信号输入待测电子器件的待测引脚，以得到所述测试信号在所述待测引脚的反射信号；

信号处理器，用于接收所述参考信号以及所述反射信号，并根据所述反射信号以及所述参考信号，确定所述反射信号与所述测试信号之间的差频信号；

所述信号处理器，还用于根据所述差频信号，确定所述待测电子器件的键合线断点位置。

8.根据权利要求7所述的设备，其特征在于，所述设备还包括：

信号发生器，用于生成初始信号，以使所述功分器对所述初始信号进行功分，生成测试信号和参考信号。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

至少一个处理器；以及

与所述处理器通信连接的至少一个存储器，其中：

所述存储器存储有可被所述处理器执行的程序指令，所述处理器调用所述程序指令能够执行如权利要求1至5任一所述的方法。