[发明专利]一种多紧缩场测量系统和方法

说明书

本申请公开了一种多紧缩场测量系统，包括微波暗室和位于微波暗室内的第一反射面、第二反射面、第一直线导轨、第二直线导轨、第一反射面方位转轴、第二反射面方位转轴；第一反射面方位转轴驱动第一反射面转动，并与第一直线导轨连接，使第一反射面沿第一直线导轨运动；第二反射面方位转轴驱动第二反射面转动，并与第二直线导轨连接，使第二反射面沿第二直线导轨运动；第一直线导轨和第二直线导轨的延长线相交；以测试点为中心移动第一反射面和第二反射面，产生多个方位的来波，生成覆盖测试点的紧缩场静区。本申请还包含使用所述系统进行多紧缩场测量的方法。本申请的方案有效降低毫米波设备测量的成本，提高测量效率。

技术领域

本申请无线电领域，尤其涉及一种对多个紧缩场进行测量的系统和测量方法。

背景技术

随着5G移动通信技术的快速发展，通信系统中的数据量和业务承载量不断增加，5G中通信频段划分为两段，其中FR1为较低频段，频率为410MHz-7125MHz，又称为Sub 6GHz频段，FR2为较高频段，频率为24250MHz-52600MHz，又称为毫米波频段。在毫米波频段的测量中，多种测量情景下需要对设备进行多个来波到达角情况下的测量，例如对被测设备需要两个及以上的波束到达角度的测量，如无线资源管理的测量需要多个角度进行收发测量的需求。

目前对5G毫米波设备的测量多采用紧缩场测量方案，紧缩场是利用反射面将馈源天线发射的球面波准直为准平面波的原理，在反射面天线的近场范围内形成准平面波，从而减少直接远场测量所需的场地尺寸。

对于无线资源管理等需要测量来自多个方向的到达角的测量，为了进一步降低暗室尺寸的成本，同时保持静区内的测试不确定度指标不变，我们提出了一种新型的多紧缩场测量系统，利用多个紧缩场，满足3GPP规定的无线资源管理等测试中需要多个角度收发测量的测试场景。

发明内容

本申请提出一种多紧缩场测量系统和方法，解决单一紧缩场测试系统不能满足多基站模拟的问题，尤其是，通过多个可移动反射面的组合设计，解决多基站模拟测试条件下微波暗室尺寸较大的问题，有效降低毫米波设备测量的成本，提高测量效率。

本申请实施例提供一种多紧缩场测量系统，包括微波暗室和位于微波暗室内的第一反射面、第二反射面、第一直线导轨、第二直线导轨、第一反射面方位转轴、第二反射面方位转轴；

第一反射面方位转轴驱动第一反射面转动，并与第一直线导轨连接，使第一反射面沿第一直线导轨运动；

第二反射面方位转轴驱动第二反射面转动，并与第二直线导轨连接，使第二反射面沿第二直线导轨运动；

第一直线导轨和第二直线导轨的延长线相交；以测试点为中心移动第一反射面和第二反射面，在馈源作用下产生多个方位的来波，生成覆盖测试点的紧缩场静区。

优选地，

以静区的中心点为中心，沿所述第一直线导轨可将第一反射面的中心与静区中心的连线旋转60°，通过第一反射面方位转轴旋转使第一反射面口面朝向静区中心；以静区的中心点为中心，沿所述第二直线导轨可将第二反射面的中心与静区中心的连线旋转60°，通过第二反射面方位转轴旋转使第二反射面口面朝向静区中心；

第一反射面与第二反射面初始位置与静区的中心点连线构成的水平夹角为30°。

优选地，第一反射面和第二反射面分别位于位置1和位置2处时，静区内被测设备接收到的来波夹角为30°；第一反射面和第二反射面分别位于位置1和位置4或分别位于位置3和位置2时，静区内被测设备接收到的来波夹角为90°；第一反射面和第二反射面分别位于位置3和位置4时，静区内被测设备接收到的来波夹角为150°。

优选地，以微波暗室长度L方向为X轴方向，室宽度W方向为Y轴方向，高度H方向为Z轴方向；第一直线导轨X轴夹角为30°，第二直线导轨与X轴典型夹角为60°，且两夹角方向相反。