[发明专利]存储器件以及形成存储器件的方法

说明书

一种用于制作存储器件的方法包括：提供初始半导体结构，其包括基础衬底、具有层间电介质层和第一牺牲层的堆叠结构；以及贯穿所述堆叠结构形成的沟道沟槽。所述方法包括：从沟道沟槽去除每个第一牺牲层的一部分，以形成捕获层沟槽；在捕获层沟槽中形成第二牺牲层；形成电荷捕获膜以填充捕获层沟槽；以及从沟道沟槽去除电荷捕获膜的一部分，以形成电荷捕获层；在沟道沟槽的侧壁上形成隧穿层和沟道层；去除第一牺牲层和第二牺牲层；在电荷捕获层上形成阻挡层；以及在邻近层间电介质层之间形成与隧穿层接触的栅极结构。

本申请是申请日为2020年3月16日、申请号为202080000581.2、名称为“存储器件以及形成存储器件的方法”的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本公开总体上涉及半导体制作技术领域，以及更具体地，涉及存储器件以及其制作方法。

背景技术

随着平面闪存的发展，半导体电子设备的制造工艺已经取得了较大的发展。然而，近年来，平面闪存的持续发展遇到了很多挑战，诸如物理限制、现有光刻技术限制、存储电子密度限制等。在这一背景下，为了解决平面闪存遇到的困难，并且追求每存储单元的较低生产成本，已经出现了各种三维(3D)闪存结构，包括3D或非(NOR)和3D与非(NAND)。

在具有NOR型结构的3D闪存中，存储单元并联排列在位线与底线(ground line)之间，而在具有NAND型结构的3D闪存中，存储单元串联排列在位线与地线之间。具有串列(tandem)结构的NAND闪存具有较低读取速度，但是具有较高写入速度和擦除速度。因此，NAND闪存适用于存储数据。此外，NAND闪存还展示出了许多用于数据存储的优点，诸如小单元尺寸和大存储容量。

电荷捕获3D存储器是允许三维集成的基本器件。电荷捕获3D存储器件中的关键结构是栅极堆叠，以及栅极堆叠通常具有多层结构，该多层结构包括沟道层、隧穿层、电荷捕获层和阻隔层。栅极堆叠的膜层被顺次布置在沟道的侧壁表面上。栅极堆叠用以控制存储器件的电荷存储功能，以及栅极堆叠的沟道层提供针对载流子的路径。因此，沟道层的电阻在存储器件的可靠性和低温特性方面起着重要作用。

随着对高存储密度的需求的增加，3D存储器件中的堆叠层的数量还可能增加，以及沟道长度可能延长。当沟道长度增加时，沟道的总电阻也增加，以及因此可能使沟道的导电性能劣化并且可能降低载流子的低温迁移率。照此，低温编程性能和变换温度性能可能不是期望的。此外，由于沟道的总体阻抗高，因此当在阵列级上执行编程/读取操作时，可能增强编程背景噪声，这可能进一步在阵列级上造成门限电压的分布变宽，以及器件可靠窗口减少。

当前，改进长沟道的导电性能的方法是调整沟道层的厚度，以及还有增加沟道层的结晶度和晶粒尺寸。调整沟道层的厚度以及提高结晶度和晶粒尺寸可能能够进一步增加沟道的导电电流并且降低晶粒边界或层界面处的捕获效应，以及因而可以改进沟道的导电性能。然而，随着堆叠层的数量增加，可能要对制作工艺施加更加严格的要求，以便进一步改进沟道的质量。

所公开的存储器件以及其制作方法针对于解决上文阐述的一个或多个问题以及本领域的其它问题。

发明内容