[发明专利]一种测试方法、装置、系统、芯片和电子设备

说明书

本申请实施例提供一种测试方法、装置、系统、芯片和电子设备。方法包括：获取待测试AI芯片运行AI测试程序时的实时运行信息，其中，所述待测试AI芯片的电压以及频率被设定为测试电压/频率设定组合；根据所述实时运行信息，生成测试结果，其中，当根据所述实时运行信息判定所述待测试AI芯片的运行出现异常时，所述测试结果为所述测试电压/频率设定组合不合理。根据本申请一实施例的方法，可以简单快速的对AI芯片进行测试，判断AI芯片的电压/频率设置组合是否合理；本申请实施例的方法流程简单，实现难度低，具有很高的实用性。

技术领域

本申请涉及人工智能技术领域，特别涉及一种测试方法、装置、系统、芯片和电子设备。

背景技术

在人工智能(Artificial Intelligence，AI)领域，AI芯片也称AI速器，是一种专门用于处理AI应用中的大量计算任务的芯片。随着电子技术的发展，越来越多的终端中加入了AI模块。由于芯片制造的过程中存在着工艺偏差，导致每一颗芯片在特定电压下可正常工作的最高频率也不尽相同。而芯片可运行的电压/频率组合直接决定了芯片的性能、功耗和稳定性。因此，在实际使用AI芯片之前，需要对芯片进行电压/频率组合测试，以判断AI芯片的电压设定以及频率设定是否合理。

发明内容

针对现有技术下如何对芯片进行电压/频率组合测试的问题，本申请提供了一种测试方法、装置、系统、芯片和电子设备，本申请还提供一种计算机可读存储介质。

本申请实施例采用下述技术方案：

第一方面，本申请提供一种测试方法，包括：

当获取到待测试AI芯片运行AI测试程序时的实时运行信息时，根据所述实时运行信息，生成测试结果，其中：

所述待测试AI芯片运行AI测试程序时的电压以及频率被设定为测试电压/频率设定组合；

当根据所述实时运行信息判定所述待测试AI芯片的运行出现异常时，所述测试结果为所述测试电压/频率设定组合不合理。

在上述第一方面的一种可行的实现方式中，所述方法还包括：

当获取到所述AI测试程序的执行结果时，根据所述AI测试程序的执行结果，生成测试结果，其中：

所述AI测试程序的执行结果为，所述待测试AI芯片运行所述AI测试程序完成后，根据所述AI测试程序的输出所生成的判定结果；

当所述AI测试程序的执行结果为执行错误时，测试结果为测试电压/频率设定组合不合理。

在上述第一方面的一种可行的实现方式中，在所述AI测试程序运行完毕后，当AI神经网络的最后一层输出的第一文件的校验结果与基准文件的校验结果不一致时，所述AI测试程序的执行结果为执行错误，其中：

所述基准文件校验结果为，在安全电压以及安全频率下，所述待测试AI芯片运行所述AI测试程序完毕后，所述AI神经网络的最后一层输出的第二文件的校验结果。

第二方面，本申请提供了一种测试响应方法，所述方法包括：

设定待测试AI芯片的电压以及频率为测试电压/频率设定组合；

使用所述待测试AI芯片运行AI测试程序；

输出所述待测试AI芯片运行所述AI测试程序时的实时运行信息。

在上述第二方面的一种可行的实现方式中，所述方法还包括，从所有可用的AI神经网络中选取测试AI神经网络，其中，所述测试AI神经网络为一个AI神经网络或多个AI神经网络的集合，所述测试AI神经网络可以覆盖所述待测试AI芯片所支持的所有算子；

所述使用所述待测试AI芯片启动AI测试程序，包括，令所述AI测试程序运行所述测试AI神经网络。