[发明专利]一种测试失效的测试向量的定位方法在审
| 申请号： | 202110089974.1 | 申请日： | 2021-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN112767991A | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 蔺华妮;王磊 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 曹廷廷 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测试 失效 向量 定位 方法 | ||
1.一种测试失效的测试向量的定位方法，其特征在于，包括以下步骤：
将测试向量集分成多个逻辑分段，并在部分所述逻辑分段前加入虚拟标记位向量，所述虚拟标记位向量后的第一个测试向量为起始测试向量；
将具有所述虚拟标记位向量的逻辑分段的测试向量加载到待测器件上完成测试，并将测试结果在位图中示出；以及
通过所述虚拟标记位后的起始测试向量的位置计算出所述逻辑分段中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的地址。
2.如权利要求1所述的测试失效的测试向量的定位方法，其特征在于，所述逻辑分段中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的地址s满足以下公式：
s＝offset+(y*n+x)-1；
其中，offset代表虚拟标记位向量所在逻辑分段的起始测量向量的位置；(x，y)表示测试结果失效的测试向量在位图中的位置，n表示位图的每行可包括的比较结果的数量，且n为正整数。
3.如权利要求2所述的测试失效的测试向量的定位方法，其特征在于，n的取值包括16或32。
4.如权利要求1-3中任一项所述的测试失效的测试向量的定位方法，其特征在于，所述测试向量集包括多个测试向量。
5.如权利要求1-3中任一项所述的测试失效的测试向量的定位方法，其特征在于，每个逻辑分段中的测试向量的数量相同。
6.如权利要求1-3中任一项所述的测试失效的测试向量的定位方法，其特征在于，部分逻辑分段中的测试向量的数量相同，部分逻辑分段中的测试向量的数量不同。
7.如权利要求1-3中任一项所述的测试失效的测试向量的定位方法，其特征在于，每个逻辑分段中的测试向量的数量均不同。
8.如权利要求1-3中任一项所述的测试失效的测试向量的定位方法，其特征在于，所述定位方法采用存储器测试平台进行测试。
9.如权利要求8所述的测试失效的测试向量的定位方法，其特征在于，所述定位方法采用Kalos测试机台进行测试。
10.如权利要求9所述的测试失效的测试向量的定位方法，其特征在于，所述Kalos测试机台的算法向量发生器模块用于存放经过逻辑分段的测试向量集。
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