[发明专利]一种测试失效的测试向量的定位方法

说明书

本发明提供的一种测试失效的测试向量的定位方法，包括以下步骤：将测试向量集分成多个逻辑分段，并在部分逻辑分段前加入虚拟标记位向量，虚拟标记位向量后的第一个测试向量为起始测试向量；将具有虚拟标记位向量的逻辑分段的测试向量加载到待测器件上完成测试，并将测试结果在位图中示出；以及通过起始测试向量的位置计算出逻辑分段中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的地址。本发明通过虚拟标记位后的起始测试向量的位置计算出逻辑分段中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的地址，实现了定位了失效的测试向量在测试向量集中的位置，使得调试的工作可以很容易的进行。

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，特别涉及一种适用于逻辑集成电路测试的测试失效的测试向量的定位方法。

背景技术

数字电路通过测试向量(test vector)进行测试，测试向量由一个输入和对应该输入的期待输出组成。针对一个测试向量，将其中的输入作为待测电路的输入，如果实际输出与期待输出一致，则表示测试通过(pass)；否则表示测试失效(fail)。

存储器测试仪结构主要由管脚电路模块(PE模块，Pin Electronics)、波形格式控制器模块(TGFC模块，Timing Generator Format Control)、数字比较模块(SC模块，SenseControl)、可编程数据选择器模块(PDS模块，Programmable Data Selector)、算法向量发生器模块(ALPG模块，Algorithmic Pattern Generator)和时序发生器模块(TG模块，Timing Generator)六部分组成测试硬件模块。所述算法向量发生器模块用于存放测试向量信息，当需要输出波形至待测器件(DUT，Device Under Test)时，所述算法向量发生器模块会根据时序发生器模块发送的主时钟信号输出测试向量至所述可编程数据选择器模块中，通过可编程数据选择器模块内部开关的切换，将测试向量传输到测试模组(PerPin)资源中，首先会经过各个待测模组的波形格式控制器模块中，波形格式控制器模块的作用是接收由时序发生器模块发送的主时钟信号，结合测试向量及波形格式生成测试需要的波形。然后所述波形格式控制器模块会将波形传送到所述管脚电路模块，管脚电路模块会将输出波形作一定电压幅度调整后，输出至待测模块的引脚(PAD)上。在比较周期，所述波形格式控制器模块会将波形传送到所述数字比较模块，用来和管脚电路模块的比较器的输出结果作对比，以判断待测器件的输出响应和测试向量的期待值是否一致，来决定功能测试结果的PASS/FAIL，但是现有的测试无法对功能测试结果失效的测试向量进行定位，这样就对调试的工作带来了很大的不便，特别是对于分段比较多的向量，更是难上加难。

发明内容

本发明提供一种测试失效的测试向量的定位方法，可以对功能测试结果失效的测试向量进行定位。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种测试失效的测试向量的定位方法，包括以下步骤：

将测试向量集分成多个逻辑分段，并在部分所述逻辑分段前加入虚拟标记位向量，所述虚拟标记位向量后的第一个测试向量为起始测试向量；

将具有所述虚拟标记位向量的逻辑分段的测试向量加载到待测器件上完成测试，并将测试结果在位图中示出；以及

通过所述虚拟标记位后的起始测试向量的位置计算出所述逻辑分段中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的地址。

可选的，所述逻辑分段中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的地址s满足以下公式：

s＝offset+(y*n+x)-1；

其中，offset代表虚拟标记位向量所在逻辑分段的起始测量向量的位置；(x，y)表示测试结果失效的测试向量在bitmap中的位置，n表示bitmap的每行可包括的比较结果的数量，且n为正整数。

进一步的，n的取值包括16或32。