[发明专利]高衰减区域检测方法、装置及计算机设备

权利要求书

1.一种高衰减区域检测方法，其特征在于，包括：

分别获取立体定位投影图像和穿刺图像，其中，获取所述立体定位投影图像和所述穿刺图像时，持针器的位置不同；

根据所述立体定位投影图像和所述穿刺图像，获得差值图像；

设定比率阈值，将所述差值图像中大于所述比率阈值的区域判定为所述穿刺图像中的第一高衰减区域；

根据所述差值图像，获得绝对差值图像；

将所述绝对差值图像中大于所述比率阈值的区域判定为至少部分高衰减并集区域，其中，所述至少部分高衰减并集区域为所述立体定位投影图像和所述穿刺图像的并集区域；

确定所述立体定位投影图像中的至少一个第二高衰减区域；

将每一个第二高衰减区域中未出现在所述高衰减并集区域的第一区域合并为所述第一高衰减区域。

2.根据权利要求1所述的高衰减区域检测方法，其特征在于，所述差值图像为所述立体定位投影图像减去所述穿刺图像后得到的差值图像；或者，所述差值图像为所述差值图像与所述立体定位投影图相除后得到的相对差值图像。

3.根据权利要求1所述的高衰减区域检测方法，其特征在于，所述绝对差值图像是所述差值图像各个位置上像素的绝对值获得的图像。

4.根据权利要求2所述的高衰减区域检测方法，其特征在于，还包括：

将所述至少一个第二高衰减区域中出现在所述高衰减并集区域的区域设置为第二区域，判断所述第二区域在所述差值图像中对应灰度值是否大于零；

若所述第二区域在所述差值图像中对应灰度值大于零，将所述第二区域合并为所述第一高衰减区域。

5.根据权利要求4所述的高衰减区域检测方法，其特征在于，还包括：

若所述第二区域在所述差值图像中对应灰度值小于或者等于零，获取所述穿刺图像中的第一高衰减区域的第一平均灰度值；

判断所述第二区域在所述穿刺图像中的第二平均灰度值是否小于所述第一平均灰度值的预设倍数；

若所述第二平均灰度值小于所述第一平均灰度值的预设倍数，将所述第二区域合并为所述第一高衰减区域。

6.根据权利要求1所述的高衰减区域检测方法，其特征在于，所述穿刺图像包括进针前图像和进针后图像。

7.一种高衰减区域检测装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取立体定位投影图像和穿刺图像，其中，获取所述立体定位投影图像和所述穿刺图像时，持针器的位置不同；

第一计算单元，用于根据所述立体定位投影图像和所述穿刺图像，获得差值图像；以及

判定单元，用于设定比率阈值，并将所述差值图像中大于所述比率阈值的区域判定为所述穿刺图像中的第一高衰减区域；

第二计算单元，用于根据所述差值图像，获得绝对差值图像；以及

确定单元，用于确定所述立体定位投影图像中的至少一个第二高衰减区域；

其中，所述判定单元还用于将所述绝对差值图像中大于所述比率阈值的区域判定为至少部分高衰减并集区域，其中，所述至少部分高衰减并集区域为所述立体定位投影图像和所述穿刺图像的并集区域，并将所述至少一个第二高衰减区域中未出现在所述高衰减并集区域的第一区域合并为所述第一高衰减区域。

8.根据权利要求7所述的高衰减区域检测装置，其特征在于，所述判定单元还用于将所述至少一个第二高衰减区域中出现在所述高衰减并集区域的区域设置为第二区域，并判断所述第二区域在所述差值图像中对应灰度值是否大于零，若所述第二区域在所述差值图像中对应灰度值大于零，将所述第二区域合并为所述第一高衰减区域。

9.根据权利要求8所述的高衰减区域检测装置，其特征在于，若所述第二区域在所述差值图像中对应灰度值小于或者等于零，所述判定单元还用于获取所述穿刺图像中的第一高衰减区域的第一平均灰度值，判断所述第二区域在所述穿刺图像中的第二平均灰度值是否小于所述第一平均灰度值的预设倍数，若所述第二平均灰度值小于所述第一平均灰度值的预设倍数，将所述第二区域合并为所述第一高衰减区域。

10.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的高衰减区域检测方法的步骤。