[发明专利]一种测试向量生成方法、装置、芯片和电子设备

权利要求书

1.一种测试向量生成方法，其特征在于，包括：

针对频点相差为测试向量采样率整数倍的多个测试频点，获取所述多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量，其中，所述多个测试频点的测试向量采样率相同；

以所述多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量为所述多个测试频点的测试向量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：

确定第一测试频点，获取所述第一测试频点的测试向量；

当需要增加测试频点时，增加第二测试频点，所述第二测试频点与所述第一测试频点的频点相差为第一测试频点的测试向量采样率整数倍；

以所述第一测试频点的测试向量为所述第二测试频点的测试向量。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：

根据测试需求确定测试频点集合，其中，所述测试频点集合中不同测试频点的测试向量采样率相同，所述测试频点集合中不同测试频点间的频点相差为所述测试向量采样率整数倍；

获取所述测试频点集合中任意一个测试频点的测试向量；

以所述测试频点集合中任意一个测试频点的测试向量为所述测试频点集合的测试向量。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取测试频点集合；

将所述测试频点集合中频点的测试向量采样率相同，且频点相差为所述测试向量采样率整数倍的测试频点，划分为一个测试频点子集；

获取所述测试频点子集中任意一个测试频点的测试向量；

以所述测试频点子集中任意一个测试频点的测试向量为所述测试频点子集的测试向量。

5.一种测试向量生成装置，其特征在于，包括：

测试向量获取模块，其用于：

针对频点相差为测试向量采样率整数倍的多个测试频点，获取所述多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量，其中，所述多个测试频点的测试向量采样率相同；

以所述多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量为所述多个测试频点的测试向量。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

测试频点确认模块，其用于确定第一测试频点，以及，当需要增加测试频点时，增加第二测试频点，所述第二测试频点与所述第一测试频点的频点相差为第一测试频点的测试向量采样率整数倍；

所述测试向量获取模块用于：

获取所述第一测试频点的测试向量；

以所述第一测试频点的测试向量为所述第二测试频点的测试向量。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

测试频点集合生成模块，其用于根据测试需求确定测试频点集合，其中，所述测试频点集合中不同测试频点的测试向量采样率相同，所述测试频点集合中不同测试频点间的频点相差为所述测试向量采样率整数倍；

所述测试向量获取模块用于：

获取所述测试频点集合中任意一个测试频点的测试向量；

以所述测试频点集合中任意一个测试频点的测试向量为所述测试频点集合的测试向量。

8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

测试频点集合获取模块，其用于获取测试频点集合；

测试频点子集分割模块，其用于将所述测试频点集合中频点的测试向量采样率相同，且频点相差为所述测试向量采样率整数倍的测试频点，划分为一个测试频点子集；

所述测试向量获取模块用于：

获取所述测试频点子集中任意一个测试频点的测试向量；

以所述测试频点子集中任意一个测试频点的测试向量为所述测试频点子集的测试向量。

9.一种电子芯片，其特征在于，所述电子芯片包括：

处理器，其用于执行存储器中存储的计算机程序指令，其中，当该计算机程序指令被该处理器执行时，触发所述电子芯片执行如权利要求1～4中任一项所述的方法流程。