[发明专利]一种测试向量生成方法、装置、芯片和电子设备

说明书

本申请实施例提供一种测试向量生成方法、装置、芯片和电子设备。方法包括：针对频点相差为采样率整数倍的多个测试频点，获取所述多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量；以所述多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量为所述多个测试频点的测试向量。根据本申请一实施例的方法，可以大大减少生成多个测试向量时单独计算单个测试向量的计算次数，从而降低生成测试向量时所要消耗的数据处理资源。

技术领域

本申请涉及通信技术领域，特别涉及一种测试向量生成方法、装置、芯片和电子设备。

背景技术

在5G(新空口New Radio,NR)应用场景中，存在NR测试需求。在某些NR测试中，需要针对测试频点生成测试向量。当存在多个测试频点时，需要针对每个测试频点分别生成测试向量。例如，在测试不同带(band)的时候，每个band的测试频点是不同的，这时候就需要对每个band单独生成一个测试向量。

一般的，测试向量的生成需要经历复杂的计算过程，因此，测试频点数越多，需要生成的测试向量也就越多，所经历的计算过程也越复杂，生成测试向量时所要消耗的数据处理资源也就越多。

发明内容

针对现有技术下测试向量的生成过程对处理资源占用过高的问题，本申请提供了一种测试向量生成方法、装置、芯片和电子设备，本申请还提供一种计算机可读存储介质。

本申请实施例采用下述技术方案：

第一方面，本申请提供一种测试向量生成方法，包括：

针对频点相差为采样率整数倍的多个测试频点，获取所述多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量；

以所述多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量为所述多个测试频点的测试向量。

在上述第一方面的一种可行的实现方式中，所述方法包括：

确定第一测试频点，获取所述第一测试频点的测试向量；

当需要增加测试频点时，增加第二测试频点，所述第二测试频点与所述第一测试频点的频点相差为采样率整数倍；

以所述第一测试频点的测试向量为所述第二测试频点的测试向量。

在上述第一方面的一种可行的实现方式中，所述方法包括：

根据测试需求确定测试频点集合，其中，所述测试频点集合中不同测试频点间的频点相差为采样率整数倍；

获取所述测试频点集合中任意一个测试频点的测试向量；

以所述测试频点集合中任意一个测试频点的测试向量为所述测试频点集合的测试向量。

在上述第一方面的一种可行的实现方式中，所述方法还包括：

获取测试频点集合；

将所述测试频点集合中频点相差为采样率整数倍的测试频点，划分为一个测试频点子集；

获取所述测试频点子集中任意一个测试频点的测试向量；

以所述测试频点子集中任意一个测试频点的测试向量为所述测试频点子集的测试向量。

第二方面，本申请提供了一种测试向量生成装置，包括：

测试向量获取模块，其用于：

针对频点相差为采样率整数倍的多个测试频点，获取所述多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量；

以所述多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量为所述多个测试频点的测试向量。

在上述第二方面的一种可行的实现方式中，所述装置还包括：