[发明专利]紫外发光二极管外延片及其制造方法有效
申请号: | 202110103265.4 | 申请日: | 2021-01-26 |
公开(公告)号: | CN113161457B | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 乔楠;李昱桦;刘源 | 申请(专利权)人: | 华灿光电(苏州)有限公司 |
主分类号: | H01L33/14 | 分类号: | H01L33/14;H01L33/06;H01L33/12;H01L33/00 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 吕耀萍 |
地址: | 215600 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 紫外 发光二极管 外延 及其 制造 方法 | ||
本公开提供了一种紫外发光二极管外延片及其制造方法,属于半导体技术领域。所述紫外发光二极管外延片包括衬底、以及依次层叠在衬底上的缓冲层、未掺杂的AlGaN层、N型层、有源层和P型层,所述紫外发光二极管还包括设置在所述有源层和所述P型层之间的电子限制层,所述电子限制层为AlGaN/MgN/InAlGaN/MgN/AlN层。该紫外发光二极管外延片可以提高电子和空穴的辐射复合效率,从而提高紫外发光二极管的内量子效率。
技术领域
本公开涉及半导体技术领域,特别涉及一种紫外发光二极管外延片及其制造方法。
背景技术
基于AlGaN材料的短波长紫外发光二极管应用领域非常广泛,是氮化物半导体研究领域的一个重要研究内容。
外延片是制造发光二极管的重要部件。现有的紫外发光二极管外延片包括衬底、以及依次层叠在衬底上的缓冲层、未掺杂的AlGaN层、N型层、有源层和P型层。其中,N型层提供电子,P型层提供空穴,电子和空穴在有源层辐射复合发光。
然而由于电子迁移率较高,部分电子易迁移到P型层中,与空穴发生非辐射复合,导致二极管的内量子发光效率比较低。
发明内容
本公开实施例提供了一种紫外发光二极管外延片及其制造方法,可以提高电子和空穴的辐射复合效率,从而提高紫外发光二极管的内量子效率。所述技术方案如下:
一方面,提供了一种紫外发光二极管外延片,所述紫外发光二极管外延片包括衬底、以及依次层叠在衬底上的缓冲层、未掺杂的AlGaN层、N型层、有源层和P型层,
所述紫外发光二极管还包括设置在所述有源层和所述P型层之间的电子限制层,所述电子限制层为依次层叠在所述有源层上的AlGaN/MgN/InAlGaN/MgN/AlN结构。
可选地,所述电子限制层中的AlGaN层的厚度大于InAlGaN层的厚度,InAlGaN层的厚度大于MgN层的厚度,AlGaN层的厚度大于AlN层的厚度,AlN层的厚度大于MgN层的厚度。
可选地,所述电子限制层中的AlGaN层的厚度为50~500nm,所述电子限制层中的MgN层的厚度为1~10nm,所述电子限制层中的InAlGaN层的厚度为1~20nm,所述电子限制层中的AlN层的厚度为10~50nm。
可选地,所述紫外发光二极管还包括设置在所述N型层和所述有源层之间的空穴限制层,所述空穴限制层为依次层叠在所述N型层上的AlN/SiN/InAlGaN/SiN/AlGaN结构。
可选地,所述空穴限制层中的AlGaN层的厚度大于InAlGaN层的厚度,InAlGaN层的厚度大于SiN层的厚度,AlGaN层的厚度大于AlN层的厚度,AlN层的厚度大于SiN层的厚度。
可选地,所述空穴限制层中的AlGaN层的厚度为50~500nm,所述空穴限制层中的SiN层的厚度为1~10nm,所述空穴限制层中的InAlGaN层的厚度为1~20nm,所述空穴限制层中的AlN层的厚度为10~50nm。
另一方面,提供了一种紫外发光二极管外延片的制造方法,所述制造方法包括:
提供一衬底;
在所述衬底上依次生长缓冲层、未掺杂的AlGaN层、N型层和有源层;
在所述有源层上生长电子限制层,所述电子限制层为依次层叠在所述有源层上的AlGaN/MgN/InAlGaN/MgN/AlN结构;
在所述电子限制层上生长P型层。
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