[发明专利]紫外发光二极管外延片及其制造方法有效

专利信息
申请号: 202110103265.4 申请日: 2021-01-26
公开(公告)号: CN113161457B 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 乔楠;李昱桦;刘源 申请(专利权)人: 华灿光电(苏州)有限公司
主分类号: H01L33/14 分类号: H01L33/14;H01L33/06;H01L33/12;H01L33/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 吕耀萍
地址: 215600 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 紫外 发光二极管 外延 及其 制造 方法
【说明书】:

本公开提供了一种紫外发光二极管外延片及其制造方法,属于半导体技术领域。所述紫外发光二极管外延片包括衬底、以及依次层叠在衬底上的缓冲层、未掺杂的AlGaN层、N型层、有源层和P型层,所述紫外发光二极管还包括设置在所述有源层和所述P型层之间的电子限制层,所述电子限制层为AlGaN/MgN/InAlGaN/MgN/AlN层。该紫外发光二极管外延片可以提高电子和空穴的辐射复合效率,从而提高紫外发光二极管的内量子效率。

技术领域

本公开涉及半导体技术领域,特别涉及一种紫外发光二极管外延片及其制造方法。

背景技术

基于AlGaN材料的短波长紫外发光二极管应用领域非常广泛,是氮化物半导体研究领域的一个重要研究内容。

外延片是制造发光二极管的重要部件。现有的紫外发光二极管外延片包括衬底、以及依次层叠在衬底上的缓冲层、未掺杂的AlGaN层、N型层、有源层和P型层。其中,N型层提供电子,P型层提供空穴,电子和空穴在有源层辐射复合发光。

然而由于电子迁移率较高,部分电子易迁移到P型层中,与空穴发生非辐射复合,导致二极管的内量子发光效率比较低。

发明内容

本公开实施例提供了一种紫外发光二极管外延片及其制造方法,可以提高电子和空穴的辐射复合效率,从而提高紫外发光二极管的内量子效率。所述技术方案如下:

一方面,提供了一种紫外发光二极管外延片,所述紫外发光二极管外延片包括衬底、以及依次层叠在衬底上的缓冲层、未掺杂的AlGaN层、N型层、有源层和P型层,

所述紫外发光二极管还包括设置在所述有源层和所述P型层之间的电子限制层,所述电子限制层为依次层叠在所述有源层上的AlGaN/MgN/InAlGaN/MgN/AlN结构。

可选地,所述电子限制层中的AlGaN层的厚度大于InAlGaN层的厚度,InAlGaN层的厚度大于MgN层的厚度,AlGaN层的厚度大于AlN层的厚度,AlN层的厚度大于MgN层的厚度。

可选地,所述电子限制层中的AlGaN层的厚度为50~500nm,所述电子限制层中的MgN层的厚度为1~10nm,所述电子限制层中的InAlGaN层的厚度为1~20nm,所述电子限制层中的AlN层的厚度为10~50nm。

可选地,所述紫外发光二极管还包括设置在所述N型层和所述有源层之间的空穴限制层,所述空穴限制层为依次层叠在所述N型层上的AlN/SiN/InAlGaN/SiN/AlGaN结构。

可选地,所述空穴限制层中的AlGaN层的厚度大于InAlGaN层的厚度,InAlGaN层的厚度大于SiN层的厚度,AlGaN层的厚度大于AlN层的厚度,AlN层的厚度大于SiN层的厚度。

可选地,所述空穴限制层中的AlGaN层的厚度为50~500nm,所述空穴限制层中的SiN层的厚度为1~10nm,所述空穴限制层中的InAlGaN层的厚度为1~20nm,所述空穴限制层中的AlN层的厚度为10~50nm。

另一方面,提供了一种紫外发光二极管外延片的制造方法,所述制造方法包括:

提供一衬底;

在所述衬底上依次生长缓冲层、未掺杂的AlGaN层、N型层和有源层;

在所述有源层上生长电子限制层,所述电子限制层为依次层叠在所述有源层上的AlGaN/MgN/InAlGaN/MgN/AlN结构;

在所述电子限制层上生长P型层。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华灿光电(苏州)有限公司,未经华灿光电(苏州)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110103265.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top